Pregled po projektu: Sofisticirane poluvodičke strukture za komunikacijsku tehnologiju (MB: MZO-ZP-036-0982904-1642)
Pronađeno 133 radova
-
101.Armellini, C; Biljanović, P; Berneschi, S; Bhaktha, S.N.B; Boulard, B; Chiappini, A; Chiasera, A; Arfuso Duverger, C; Feron, P; Ferrari, M et al.Optical properties and fabrication of glass-based erbium activated micro-nano photonic structures // Proceedings of MIPRO 2008 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Denona, 2008. str. 21-26 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), ostalo) -
102.Vilman, Viktor; Ivanda, Mile; Biljanović, Petar; Gamulin, Ozren; Ristić, Davor; Furić, Krešimir; Ristić, Mira; Musić, SvetozarLow pressure chemical vapor deposition of thin SiOx films by chemical reaction of SiH4, O2 and N2: gaseous: preparation and characterization // Proceedings of MIPRO 2008 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Denona, 2008. str. 35-37 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
103.Grgec, DaliborCalculation Methods for Tunneling Transmission Coefficients // Proceedings of MIPRO 2008 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka, 2008. str. 96-101 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
104.Hoellt, Lothar; Schulze, Joerg; Eisele, Ignaz; Suligoj, Tomislav; Jovanović, Vladimir; Thompson, Phill E.First sub-30nm vertical Silicon-On-Nothing MOSFET // Proceedings of the 31st International Convention MIPRO / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Zagreb: Denona, 2008. str. 90-95 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
105.Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Biljanović, Petar : Nanver, Lis K.FinFET technology for wide-channel devices with ultra-thin silicon body // Proceedings of the 31st International Convention MIPRO / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Zagreb: Denona, 2008. str. 79-83 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
106.Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Nanver, Lis K.Silicon-Etching For Ultra-High Aspect-Ratio FinFET // Transactions of the 213th Electrochemical Society Meeting ECS 2008 / Timans, P.J. ; Gusev, E.P. ; Iwai, H. ; Kwong, D.L. ; Ozturk, M.C. ; Roozeboom, F. (ur.).
Pennington (NJ): ECS, 2008. str. 313-320 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
107.Šakić, Agata; Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavInfluence of Scaling and Source/Drain Series Resistance on the Characteristics of Ultra-Thin Body FinFETs // Proceedings of the 31st International Convention MIPRO / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Zagreb: Denona, 2008. str. 84-89 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
108.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavProperties of Bulk FinFET with High-κ Gate Dielectric and Metal Gate Electrode // Proceedings of the 31st International Convention MIPRO / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Zagreb: Denona, 2008. str. 73-78 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
109.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavSOI vs. Bulk FinFET: Body Doping and Corner Effects Influence on Device Characteristics // Proceedings of the 14th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON) / G. A. Capolino, J. F. Santucci (ur.).
Ajaccio: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008. str. 425-430 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
110.Žonja, Sanja; Ivanda, Mile; Očko, Miroslav; Biljanović, Petar; Furić, KrešimirLow pressure chemical vapour deposition of heavily boron doped polycrystalline silicon thin films: preparation and characterizations // Proceedings of MIPRO 2008 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Denona, 2008. str. 38-42 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
111.Žonja, Sanja; Očko, Miroslav; Ivanda, Mile; Biljanović, PetarLow temperature resistivity of heavily boron doped LPCVD polysilicon thin films // Journal of physics. D, Applied physics, 41 (2008), 16; 162002, 5 doi:10.1088/0022-3727/41/16/162002 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
112.Biljanović, Petar; Žonja, SanjaOsnove mikroelektronike // Ei (Zagreb), 16 (2008), 2; 58-62 (podatak o recenziji nije dostupan, pregledni rad, stručni)
-
113.Biljanović, Petar; Žonja, SanjaTemelji mikroelektronike // Ei (Zagreb), 16 (2008), 1; 52-56 (podatak o recenziji nije dostupan, pregledni rad, stručni)
-
114.Jovanović, VladimirFin technology for wide-channel FET structures, 2008., doktorska disertacija, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
115.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical Silicon-on-Nothing FET: Capacitance-Voltage Compact Modeling // Proceedings of the 30th International Convention MIPRO 2007 / P. Biljanović, K. Skala (ur.).
Rijeka: Studio Hofbauer, 2007. str. 84-88 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
116.Kuzmanović, Branislav; Baus, Zoran; Biljanović, PetarInfluence of p-n Capacity Barrier on Optimal RC Protection of Thyristors // Journal of electrical engineering, 58 (2007), 3; 140-145 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
117.Jovanović, Vladimir; Shi, Lei; Lorito, Gianpaolo; Piccolo, Giulia; Sarubbi, Francesco; Nanver, Lis K.Integration of Junction FETs in Back-wafer Contacted Silicon-On-Glass Technology // Proceedings of 10th Annual Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics and Sensors, SAFE 2007
Veldhoven, Nizozemska, 2007. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
118.Zhang, Jianjun; Stoffel, Mathieu; Rastelli, Armando; Schmidt, Oliver G.; Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis K.; Bauer, GuentherSiGe growth on patterned Si(001) substrates: Surface evolution and evidence of modified island coarsening // Applied Physics Letters, 91 (2007), 17; 173115-1 doi:10.1063/1.2802555 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
119.Armellini, C.; Biljanović, Petar; Chiappini, A.; Chiasera A.; Ferrari, M.; Ivanda, Mile (predavač); Jestin, Y.; Mattarelli, M.; Minati, L.; Montagna, M. et al.Nanocomposite Photonic Glasses and Confined Structures Tailoring Er3+ Spectroscopic Properties // Proceedings of MIPRO 2007, MEET & HGS / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007. str. 19-22 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
120.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavTechnological constrains of bulk FinFET structure in comparison with SOI FinFET // Proceedings of International Semiconductor Device Research Symposium / Jones, K. (ur.).
College Park (MD), 2007. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
121.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical Silicon-on-Nothing FET: Treshold Voltage Calculation Using Compact Capacitance Model // 2007 International Semiconductor Device Research Symposium / Jones, Ken (ur.).
Sjedinjene Američke Države, 2007. (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
122.Jovanović, Vladimir; Milosavljević, Silvana; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav; Biljanović, PetarSub-100 nm Silicon Nitride Hard-Mask for High Aspect Ratio Silicon Fins // Proceedings of MIPRO 2007, MEET & HGS / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007. str. 62-66 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
123.Ristić, Davor; Ivanda, Mile; Biljanović, Petar; Žonja, Sanja; Furić, Krešimir; Musić, Svetozar; Ristić, Mira; Montagna, Maurizio; Ferrari, Maurizio; Righini, C.G.Structural and Optical Properties of Silicon Nanocrystals Prepared by Phase Separation of Si-rich Silicon Oxide // Proceedings of the 30th MIPRO 2007 International Convention / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007. str. 40-44 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
124.Biljanović, Petar; Kuzmanović, Branislav; Baus, ZoranStatička svojstva tiristora // Ei (Zagreb), 11-12 (2007), 3-4; 79-80 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, ostalo)
-
125.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical silicon-on-nothing FET: analytical model of subthreshold slope // 43rd INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, DEVICES AND MATERIALS AND THE WORKSHOP ON ELECTRONIC TESTING / Trontelj, J. ; Novak, F. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2007. str. 71-74 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
