Pregled po projektu: 00980206
Pronađeno 78 radova
-
26.Jakšić, Milko; Paszti, F.; Kotai, A.; Fazinić, StjepkoInstrumentation for PIXE and RBS // IAEA-TECDOC, 1190 (2000), 1-71 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
27.Bogdanović Radović, Ivančica; Steinbauer, E.; Benka O.Elastic recoil detection analysis for large recoil angles (LA-ERDA) // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials & Atoms. 170(1-2):163-170, 170 (2000), 1-2; 163-170 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
28.Tadić, Tonči; Jakšić, Milko; Capiglia, C.; Saito, Y.; Mustarelli, P.External microbeam PIGE study of Li and F distribution in PVdF/HFP electrolyte gel polymer for lithium battery application // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials & Atoms, 161 (2000), 614-618 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
29.Vlahovic, Branislav; Soldi, Angelaurelio; Borjanovic, Vesna; Jaksic, Milko; Sitar, ZlatkoDiamond Microstrip Nuclear Detector // Bulletin of the American Physical Soc. / Barret H. Ripin (ur.).
Atlanta (GA): APS, 1999. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
30.Orlić, Ivica; Bogdanović, Ivančica; Zhou Shijun; Sanchez, J.L.Parametrization of the total photon mass attenuation coefficients for photon energies between 100 eV and 1000 MeV // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 150 (1999), 40-45 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
31.Henč-Bartolić, Višnja; Kovačević, Eva; Borjanović, Vesna; Pleslić Jovičić, SandaMeđudjelovanje laserskog snopa s poluvodičima i metalima // Knjiga sažetaka / Batistić I. (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 1999. (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
32.Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Pastuović, ŽeljkoKarakterizacija metalnih niti s crkvenog ruha iz 17. stoljeća // MATEST '99 Napredne tehnike KBR / Krstelj, Vjera (ur.).
Zagreb: Hrvatsko društvo za kontrolu bez razaranja, 1999. str. 149-154 (predavanje, domaća recenzija, cjeloviti rad (in extenso), stručni) -
33.Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Bogdanović, Ivančica; Pastuović, ŽeljkoMeđudjelovanja brzih iona i tvari, te njihove primjene u karakterizaciji i modifikaciji materijala // Knjiga sažetaka
Zagreb: Hrvatsko filozofsko društvo, 1999. (poster, sažetak, znanstveni) -
34.Bošnjak, Željka MarijaUtjecaj kemijskog vezanja na omjer intenziteta Kbeta/Kalpha X-zračenja Cr i Mn za ionizaciju s protonima energije 3 MeV, 1999., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički, Zagreb
-
35.Vittone, E.; Fizzoti, F.; Gargioni, E.; Lu, R.; Polesello, P.; LoGiudice, A.; Manfredotti, C.; Galassini, S.; Jakšić, MilkoEvaluation of the diffusion length in silicon diodes by means of the lateral IBIC technique // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 476-480 doi:10.1016/S0168-583X(99)00383-3 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
36.Tadić, Tonči; Mokuno, Y.; Horino, Y.; Jakšić, Milko; Desnica-Franković, Dunja Ida; Trojko, RudolfHigh-energy resolution PIXE study of heat induced changes in cadmium compounds using ion microbeam // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 241-244 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
37.Polesello, P.; Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Lu, R.; Vittone, E.; Lerondel, G.; Rossi, A.M.; Amato, G.; Boarino, L.; Galassini, S. et al.Micromachining of silicon with a proton microbeam // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B : Beam interactions with materials and atoms (Print), 158 (1999), 1-4; 173-178 doi:10.1016/S0168-583X(99)00382-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
38.Mokuno, Y.; Horino, Y.; Tadić, Tonči; Terasawa, M.; Kinomura, A.; Chayahara, A.; Tsubouchi, N.WDX-PIXE analysis of low energy X-rays using a microbeam // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B. Beam interactions with materials and atoms, 150 (1999), 1-4; 109-113 doi:10.1016/S0168-583X(98)00921-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
39.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; LoGiudice, A.; Polesello, P.; Vittone, E.; Lu, R.; Jakšić, MilkoIon microbeam analysis of CVD diamond // Diamond and related materials, 8 (1999), 8-9; 1597-1601 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
40.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Tadić, TončiNew developments in IBIC for the study of charge transport properties of radiation detector materials // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 458-463 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
41.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative analysis of a-Si_1-xC_x:H thin films // Applied surface science, 145 (1999), 188-191 doi:10.1016/S0169-4332(98)00795-8 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
42.Bogdanović, Ivančica; Tadić, Tonči; Jakšić, Milko; Halabuka, Z.; Trautmann, D.L-shell ionization of Cd, Sb, Te, Ba, La, Eu, Tb and Yb by ^16O ions in the energy range from 0.19 to 0.75 MeV u^-1 // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 150 (1999), 1-4; 18-26 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
43.Pivac, Branko; Etlinger, Božidar; Borjanović, VesnaOxigen Influence on Carbon Redistribution in Thermally Treated EFG Poly-Si // Peoceedings of the Int. Conf. held at Vienna, Austria / J. Schmid, H.A. Ossenbrik, P. Helm, H. Ehmann, E.D. Dunlop (ur.).
Beč: Joint Research Centre, 1998. str. 1657-1660 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
44.Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Orlić, Ivica; Osipowicz, T.; Vittone, E.; Manfredotti, C.Imaging of charge collection properties of CVD diamond using high-resolution ion beam induced charge technique with protons and alpha particles // Diamond films and technology, 8 (1998), 5; 391-398 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
45.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative Analysis of a-Si1 x Cx:H Thin Films // Abstract Book / Phil Woodruff (ur.).
Birmingham, Ujedinjeno Kraljevstvo: IUVSTA, 1998. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
46.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Borjanović, VesnaAnaliza slojeva silicij karbida infracrvenom spektroskopijom i RBS metodom // Zbornik sažetaka konferencije / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 1998. str. 16-16 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
47.Tadić, Tonči; Mokuno, Y.; Horino, Y.; Fujii, K.; Jakšić, MilkoEnergy straggling induced errors in heavy-ion PIXE analysis // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 179-183 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
48.Pastuović, Željko; Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Oliaiy, P.Deviations from Rutherford backscattering cross section for backscattering of 6^Li ions from fluorine between 2.5 and 7 MeV // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 81-85 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
49.Mokuno, Y.; Horino, Y.; Tadić, Tonči; Terasawa, M.; Sekioka, T.; Chayahara, A.; Kinomura, A.; Tsubouchi, N.; Fujii, K.High energy resolution PIXE analysis using focused MeV heavy ion beams // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 368-372 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
50.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Polesello, P.; Vittone, E.; Truccato, M.; Lo Giudice, A.; Jakšić, Milko; Rossi, P.IBIC and IBIL microscopy applied to advanced semiconductor materials // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials & Atoms, 138 (1998), 1333-1339 doi::10.1016/S0168-583X(97)00829-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
