Pregled po projektu: 0036037
Pronađeno 17 radova
-
1.Kopriva, Ivica; Garrood, Dennis; Borjanović, VesnaSingle frame blind image deconvolution by nonnegative matrix factorization with sparseness constraints // Optics Communications, 266 (2006), 2; 456-464 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
2.Mikšić Trontl, VesnaElektronska i strukturna svojstva adsorbiranih metalnih nanosistema, 2005., doktorska disertacija, Prirodoslovno matematički, Zagreb
-
3.Mikšić Trontl, Vesna; Pletikosić, Ivo; Milun, Milorad; Pervan, Petar; Lazić, Predrag; Šokčević, Damir; Brako, RadovanExperimental and ab initio study of the structural and electronic properties of subnanometer thick Ag films on Pd(111) // Physical review. B, Condensed matter and materials physics, 72 (2005), 23; 235418, 11 doi:10.1103/PhysRevB.72.235418 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
4.Mikšić Trontl, Vesna; Kralj, Marko; Milun, Milorad; Pervan, PetarThe formation of the silver 4d band in ultra thin films // IVC-16 Book of Abstracts
Venecija, 2004. (poster, sažetak, znanstveni) -
5.Mikšić Trontl, Vesna; Kralj, Marko; Milun, Milorad; Pervan, PetarSpin-orbit splitting in ultra thin Ag films on Cu(100) // Surface science, 551 (2004), 1/2; 125-131 doi:10.1016/j.susc.2004.01.001 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
6.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Vacuum, 71 (2003), 129-133 doi:10.1016/S0042-207X(02)00726-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
7.Mikšić, Vesna; Kralj, Marko; Pervan, Petar; Milun, MiloradHRUPS, STM and LEED characterization of ultrathin Ag films on Cu (100) // Book of Abstracts 22nd European Conference on Surface Science
Prag, Češka Republika, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
8.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Vacuum, 71 (2003), 117-122 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
9.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, IvanIBIC studies of oxygen doped polycrystalline silicon // 2nd aSiNet Workshop on Thin Silicon and 9th Euroregional Workshop on Thin Silicon Devices, Book of Abstracts / Shubert, Markus B. ; Conde, Joao P. (ur.).
Lisabon: Instituto Superior Técnico, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
10.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 77-77 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
11.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 42-42 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
12.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, Ivan; Vlahović, BranislavIBICC studies of polycrystalline silicon // Preliminary Program
New Orleans (LA): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2002. str. 1P25-1P25 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
13.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaImplantacija C+ u Si // Zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. str. 22-22 (poster, sažetak, znanstveni) -
14.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 183-189 doi:10.1016/S0927-0248(01)00163-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
15.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Evtody, B.N.; Katz, E.Comparative studies of EFG ribbon poly-Si grown by different procedures // Solar energy materials and solar cells, 72 (2002), 1-4; 165-171 doi:10.1016/S0927-0248(01)00161-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
16.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaDefects in carbon and oxygen implanted p-type silicon // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B, 186 (2002), 355-359 doi:10.1016/S0168-583X(01)00917-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
17.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Vlahović, Branislav; Dutta, J.; Ječmenica, RadeDefects in polycristalline silicon studied by IBICC // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 487-494 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
