Pregled po CROSBI profilu: Vesna Borjanović (CROSBI Profil: 4699, MBZ: 186883)
Pronađeno 78 radova
-
51.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 183-189 doi:10.1016/S0927-0248(01)00163-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
52.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Evtody, B.N.; Katz, E.Comparative studies of EFG ribbon poly-Si grown by different procedures // Solar energy materials and solar cells, 72 (2002), 1-4; 165-171 doi:10.1016/S0927-0248(01)00161-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
53.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaDefects in carbon and oxygen implanted p-type silicon // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B, 186 (2002), 355-359 doi:10.1016/S0168-583X(01)00917-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
54.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Vlahović, Branislav; Dutta, J.; Ječmenica, RadeDefects in polycristalline silicon studied by IBICC // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 487-494 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
55.Gracin, Davor; Vlahović, Branislav; Borjanović, Vesna; Sunda-Meya, A.; Paterson, T.; Dutta, J. M.; Hauger, S.; Pinayev, I.; Ware, M. E.; Alexson, D. et al.Selective bong breaking in amorphous hydrogenated silicon by using Duke FEL // Nuclear Instruments and Methods A, 475 (2001), 635-640 doi:10.1016/S0168-9002(01)01578-9 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
56.Jakšić, Milko; Borjanović, Vesna; Pastuović, Željko; Bogdanović Radović, Ivančica; Skukan, Natko; Pivac, BrankoIBICC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 181 (2001), 298-304 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
57.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaPoint defects in carbon rich poly-Si // Polycrystalline Semiconductors IV - Bulk Materials, Thin Films, and Devices / Bonnaud, O. ; Mohammed-Brahim, T. ; Strunk, H.P. ; Werner, J.H. (ur.).
Uetikon: Scitech Publications, 2001. str. 115-120 -
58.Borjanović, VesnaInterakcija laganih i nedopirajućih primjesa sa strukturnim defektima u siliciju, 2001., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
59.Gracin, Davor; Bogdanović, Ivančica; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Dutta, J. M.; Vlahović, Branislav; Nemanich, R. J.Quantitative Analysis of a-Si1-xCx:H Thin Films by Vibrational Spectroscopy and Nuclear Methods // Vacuum, 61 (2001), 2-4; 303-308 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
60.Pivac, B.; Borjanović, V.; Kovačević, I.; Zulim, I.Deep level defects in oxygen doped EFG poly-Si // Proceedings of 28th IEEE Photovoltaic Specialist Conference
Anchorage (AK): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 276-279 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
61.Gracin, Davor; Dutta, J.M.; Borjanović, Vesna; Vlahović, Branimir; Bogdanović, Ivančica; Jakšić, Milko; Nemanich, R.J.The chemical ordering in a-Si1-xCx:H thin films by vibrational spectroscopy and nuclear methods // Program and Proceedings NCPV Program Review Meeting
Denver (CO): NREL, Sandia National Laboratories, 2000. str. 225-226 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
62.B. Vlahovic, D. Gracin, V. Borjanovic, J.M. Dutta, A. Sunda Meya, S. Hauger, I. Pinayev, M.E. Ware, D. Alexson and R.J. NemanichSelective bond breaking in amorphous hydrogenated silicon by using Duke FEL // The 22nd international free electron laser conference and 7th FEL users workshop, 13 to 18 August 2000, Duke free electron laser laboratory, Durham, North Carolina USA, book of abstracts / V.N.Litvinenko (ur.).
Durham: Duke University, 2000. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
63.Gracin, Davor; Bogdanović, Ivančica; Borjanović, Vesna; Pastuović, Željko; Jakšić, Milko; Dutta, D.M.; Vlahović, Branimir, Nemanić, R.J.Quantitative analysis of a-Si1-xCx:H thin films by vibrational spectroscopy and nuclear methods // 8th joint vacuum conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary, final program and book of abstracts / Milun, M. ; Zorc, H. (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 27-28 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
64.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // 8th joint vacuum conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 50-50 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
65.Baće, Mile; Bistričić, Lahorija; Borjanović, Vesna; Horvat, Dubravko; Petković, TomislavRiješeni primjeri i zadaci iz fizike materijala
Zagreb: Zavod za primijenjenu fiziku, 2000 -
66.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Borjanović, VesnaIBIC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // 7th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications, Final Program and Abstracts
Bordeaux: ICNMTA 2000, 2000. str. 33-33 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
67.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, IvanaIntrinsic point defects in polycrystalline silicon // Fizika A, 9 (2000), 1; 37-46 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
68.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Šantić, Branko; Pivac, BrankoOxygen-related deep levels in oxygen doped EFG poly-Si // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 71 (2000), SI; 292-296 doi:10.1016/S0921-5107(99)00393-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
69.Vujičić, Miroslav; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoCarbon influence on gamma-irradiation induced defects in n-type CZ Si // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 71 (2000), SI; 92-95 doi:10.1134/S0020168507110015 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
70.Vlahovic, Branislav; Soldi, Angelaurelio; Borjanovic, Vesna; Jaksic, Milko; Sitar, ZlatkoDiamond Microstrip Nuclear Detector // Bulletin of the American Physical Soc. / Barret H. Ripin (ur.).
Atlanta (GA): APS, 1999. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
71.Henč-Bartolić, Višnja; Kovačević, Eva; Borjanović, Vesna; Pleslić Jovičić, SandaMeđudjelovanje laserskog snopa s poluvodičima i metalima // Knjiga sažetaka / Batistić I. (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 1999. (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
72.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative analysis of a-Si_1-xC_x:H thin films // Applied surface science, 145 (1999), 188-191 doi:10.1016/S0169-4332(98)00795-8 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
73.Pivac, Branko; Etlinger, Božidar; Borjanović, VesnaOxigen Influence on Carbon Redistribution in Thermally Treated EFG Poly-Si // Peoceedings of the Int. Conf. held at Vienna, Austria / J. Schmid, H.A. Ossenbrik, P. Helm, H. Ehmann, E.D. Dunlop (ur.).
Beč: Joint Research Centre, 1998. str. 1657-1660 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
74.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative Analysis of a-Si1 x Cx:H Thin Films // Abstract Book / Phil Woodruff (ur.).
Birmingham, Ujedinjeno Kraljevstvo: IUVSTA, 1998. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
75.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Borjanović, VesnaAnaliza slojeva silicij karbida infracrvenom spektroskopijom i RBS metodom // Zbornik sažetaka konferencije / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 1998. str. 16-16 (predavanje, sažetak, znanstveni)
