Pregled po CROSBI profilu: Tihomir Knežević (CROSBI Profil: 30771, MBZ: 328552)
Pronađeno 45 radova
-
26.Berdalović, Ivan; Osrečki, Željko; Šegmanović, Filip; Grubišić, Dragan; Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavDesign of Passive-Quenching Active-Reset Circuit with Adjustable Hold-Off Time for Single-Photon Avalanche Diodes // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2016. str. 40-45 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
27.Poljak, Mirko; Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavRješavanje praktičnih problema iz mikroelektroničkih komponenti i poluvodičke tehnologije
Zagreb: FER: Manualia Universitatis studiorum Zagrabiensis, 2015 -
28.Janeković, Ivan; Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Grubišić, DraganOptimization of floating guard ring parameters in separate-absorption-and-multiplication silicon avalanche photodiode structure // Proceedings of the 38th International Convention MIPRO 2015 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: GRAFIK, 2015. str. 37-41 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
29.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Knežević, Tihomir; Žilak, JosipDesign of a scalable model of GaN devices, 2014. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
30.Suligoj, Tomislav; Knežević Tihomir; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Žilak, JosipPureB layers – XRD measurements and temperature characteristics, 2014. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
31.Suligoj, Tomislav; Knežević, TihomirAvalanche Photodiode Simulations, 2014. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
32.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, JosipLarge Area Reverse Structure Avalanche Photodiode Simulations, 2014. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
33.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, JosipXPS Data interpretation of PureB layers, 2013. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
34.Suligoj, Tomislav; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žilak, JosipSpectroscopic elipsometry and Internal photoemission characterization of of PureB layers, 2013. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
35.Suligoj, Tomislav; Knežević, Tihomir; Poljak, Mirko; Žonja, Sanja; Žilak, JosipOptimization of diode capacitance of Annular BS detector, 2012. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
36.Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Šakić, Agata; Nanver, Lis K.Modelling of Electrical Characteristics of Ultrashallow Pure Amorphous Boron p+n Junctions // MIPRO 2012 - 35th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics - Proceedings / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2012. str. 42-47 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
37.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Knežević, Tihomir; Žilak, JosipEmitter Coupled Logic (ECL) Circuit Testing and Measurements in a Novel Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) Technology – 2nd Lot, 2011. (podatak o recenziji nije dostupan, ekspertiza).
-
38.Čović, MajaANALIZA P-I-N FOTODIODA VELIKIH BRZINA RADA I OSJETLJIVOSTI, 2011., diplomski rad, preddiplomski, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
39.Šakić, Agata; Nanver, Lis K.; Scholtes Tom L.M.; Heerkensa, Carel Th.H.; Knežević, Tihomir; Van Veen, Gerard; Kooijman, Kees; Vogelsang, PatrickBoron-layer silicon photodiodes for high-efficiency low-energy electron detection // Solid-state electronics, 65/66 (2011), 38-44 doi:10.1016/j.sse.2011.06.042 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
40.Knežević, Tihomir; Suligoj, Tomislav; Šakić, Agata; Nanver, Lis K.Optimization of the perimeter doping of ultrashallow p+-n--n- photodiodes // MIPRO 2011 - 34th International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics - Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Zagreb: Croatian Society MIPRO, 2011. str. 44-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
41.Shi, L.; Nanver, Lis K.; Šakić, Agata; Nihtianov, Stoyan N.; Knežević, Tihomir; Gottwald, Alexander; Kroth, UdoSeries Resistance Optimization of High-Sensitivity Si-based VUV Photodiodes // IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
Binjiang: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011. str. 1-4 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
42.Šakić, Agata; Nanver, Lis K.; Van Veen, Gerard; Kooijman, Kees; Vogelsang, Patrick; Scholtes, T. L. M.; De Boer, W. B.; Wien, W.; Milosavljević, Silvana; Heerkens, C. T. H. et al.Versatile silicon photodiode detector technology for scanning electron microscopy with high-efficiency sub-5 keV electron detection // Technical Digest - International Electron Devices Meeting
San Francisco (CA): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010. str. 31.4.1-31.4.4 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
43.Žilak, Josip; Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavOptimization of Stress Distribution in Sub-45 nm CMOS Structures // Proceedings of 45th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials MIDEM 2009 / Topič M. ; Krč, J. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials, 2009. str. 85-90 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
44.Knežević, TihomirKarakteristike FinFET struktura s ultra tankim tijelom pod utjecajem naprezanja, 2009., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
45.Knežević, Tihomir; Žilak, Josip; Suligoj, TomislavStress Effect in Ultra-Narrow FinFET Structures // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Zagreb: Croatian Society MIPRO, 2009. str. 89-94 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
