Pregled po CROSBI profilu: Davor Gracin (CROSBI Profil: 20345, MBZ: 82826)
Pronađeno 208 radova
-
51.Tireli, Martina; Juribašić Kulcsar, Marina; Cindro, Nikola; Gracin, Davor; Biliškov, Nikola; Borovina, Mladen; Ćurić, Manda; Halasz, Ivan; Užarević, KrunoslavMechanochemical reactions studied by in situ Raman spectroscopy : base catalysis in liquid-assisted grinding // Chemical communications, 51 (2015), 38; 8058-8061 doi:10.1039/c5cc01915j (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
52.Volodin, Boris; Dolgy, Sergei; Ban, Vladimir S.; Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Gracin, LeoApplication of the shifted excitation Raman difference spectroscopy (SERDS) to the analysis of trace amounts of methanol in red wines // Proc. SPIE 8939, Biomedical Vibrational Spectroscopy VI: Advances in Research and Industry, 893901 (March 11, 2014) ; doi:10.1117/12.2059830 / Anita Mahadevan-Jansen ; Wolfgang Petrich (ur.).
San Francisco (CA): SPIE, 2014. (ostalo, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso)) -
53.Budimir, IvanAnaliza osnovnih parametara vina Ramanovom spektroskopijom, 2014., diplomski rad, diplomski, Prehrambeno-biotehnološki fakultet, Zagreb
-
54.Juraić, Krunoslav; Gracin, Davor; Siketić, Zdravko; Čeh, MiranAnalysis of amorphous-nanocrystalline silicon thin films by time-of-flight elastic recoil detection analysis and high-resolution electron microscopy // 64th Annual Meeting of the Austrian Physical Society
Pöllau, Austrija, 2014. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
55.Gracin, Davor; Tudić, Vladimir; Šantić, Ana; Juraić, Krunoslav; Gajović, Andreja; Meljanac, Daniel; Dubček, Pavo; Drašner, Antun; Bernstorff, Sigrid; Čeh, MiranThe influence of thermal annealig on the structural and electrical properties of amorphous-nano-crystaline thin Si films // 16th International Conference on Thin Films (ICTF16) : abstracts / Radić, Nikola ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2014. str. 135-136 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
56.Juribašić, Marina; Užarević, Krunoslav; Gracin, Davor; Ćurić, MandaMechanochemical C–H bond activation : rapid and regioselective double cyclopalladation monitored by in situ Raman Spectroscopy // Chemical communications, 50 (2014), 71; 10287-10290 doi:0.1039/C4CC04423A (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
57.Gracin, Davor; Štrukil, Vjekoslav; Friščić, Tomislav; Halasz, Ivan; Užarević, KrunoslavLaboratory real-time and in situ monitoring of mechanochemical milling reactions using Raman spectroscopy // Angewandte Chemie. International edition, 53 (2014), 24; 6193-6197 doi:10.1002/anie.201402334 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
58.Blažinić, VanjaUtjecaj grijanja na optička svojstva amorfno-nano-kristalnog silicija, 2013., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet Fizički odsjek, Zagreb
-
59.Gracin, Davor; Meljanac, Daniel; Juraić, Krunoslav; Gajović, Andreja; Bernstorff, Sigrid; Dubček, Pavo; Drašner, Antun; Čeh, MiranUtjecaj termičkog tretmana na strukturna i optička svojstva amorfno-nano-kristaliničnog Si filma // 8. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva: knjiga sažetaka / Miroslav Požek, Ticijana Ban, Ante Bilušić, Predrag Dominis Prester, Andreja Gajović, Krešimir Kumerički, Ivana Kurečić, Nenad Pavin, Vanja Radolić, Suzana Szilner, Eduard Tutiš (ur.).
Zagreb: H, 2013. str. 37-37 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
60.Juraić, Krunoslav; Gracin, Davor; Meljanac, Daniel; Drašner, Antun; Plaisier, Jasper Rikkert; Skenderović, HrvojeStrukturna i optička svojstva ZnO:Al tankih filmova pripremljenih magentronskim rasprašenjem // 8. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva: knjiga sažetaka / Požek, Miroslav ; Ban, Ticijana ; Bilušić, Ante ; Dominis Prester, Predrag ; Gajović, Andreja ; Kumerički, Krešimir ; Kurečić, Ivana ; Pavin, Nenad ; Radolić, Vanja ; Szilner, Suzana ; Tutiš, Eduard (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2013. str. 112-112 (poster, sažetak, znanstveni) -
61.Petric, MarkoSpektralni odziv solarne ćelije bazirane na nanokristaliničnom siliciju, 2013., diplomski rad, diplomski, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
62.Gracin, Davor; Siketić, Zdravko; Juraić, Krunoslav; Čeh, MiranAnalysis of amorphous-nanocrystalline silicon thin films by time-of-flight elastic recoil detection analysis and high-resolution electron microscopy // Applied surface science, 275 (2013), 19-22 doi:10.1016/j.apsusc.2013.01.162 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
63.Juraić, Krunoslav; Gracin, Davor; Siketić, Zdravko; Čeh, MiranAnalysis of amorphous-nanocrystalline silicon thin films by High Resolution Transmission Electron Microscopy and Time-of-Flight Elastic Recoil Detection Analysis // Croatian Microscopy Simposium: Book of Abstracts / Gajović, Andreja ; Tomašić, Nenad (ur.).
Zagreb: Hrvatsko mikroskopijsko društvo, 2012. str. 83-84 (poster, sažetak, znanstveni) -
64.Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Djerdj, Ivan; Gajović, Andreja; Bernstorff, Sigrid; Tudić, Vladimir; Čeh, MiranAmorphous-nanocrystalline silicon thin films for single and tandem solar cells // Photovoltaic Technical Conference - Thin Film & Advanced Silicon Solutions 2012.
Aix-en-Provence, 2012. str. D1-2/17 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
65.Ristova, Mimoza; Gligorova, A.; Nasov, Ilija; Gracin, Davor; Milun, Milorad; Kostadinova-Boskova, Hristina; Popeski-Dimovski, RisteTiO2 Coating for SnO2:F Films Produced by Filtered Cathodic Arc Evaporation for Improved Resistance to H+ Radical Exposure // Journal of electronic materials, 41 (2012), 11; 3087-3094 doi:10.1007/s11664-012-2221-4 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
66.Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Sancho-Parramon, Jordi; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Čeh, MiranAmorphous-nano-crystalline silicon thin films in next generation of solar cells, 2012. (podatak o recenziji nije dostupan, ostali članci/prilozi).
-
67.Djerdj, Igor; Juraić, Krunoslav; Gracin, DavorStructural features of layered SnO2 thin films // Twenty-first Slovenian-Croatian Crystallographic Meeting : Book of abstracts and programm = Enaindvajseto slovensko-hrvaško srečanje kristalografov : knjiga povzetkov in programa / Lah, Nina ; Trdin, Miha ; Leban, Ivan (ur.).
Ljubljana: Faculty of Chemistry and Chemical Technology, 2012. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
68.Djerdj, Igor; Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Marinović, Adam; Balzar, DavorMicrostructural and optical study of inhomogeneous SnO2 thin films // ISMANAM 2012 : Book of abstracts
Moskva, Ruska Federacija, 2012. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
69.Gracin, Davor; Siketić, Zdravko; Juraić, Krunoslav; Čeh, MiranAnalysis of amorphous-nanocrystalline Si thin films by Time-of-Flight Elastic Recoil Detectoin Anlaysis and High Resolution Electron Microscopy // 6th International Meeting on Developments in Materials, Processes and Applications of Emerging Technologies (MPA 2012)
Alvor, Portugal, 2012. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
70.Juraić, KrunoslavTanki filmovi amorfno-nanokristalnog silicija: strukturne i optičke osobine, 2012., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
71.Gracin, Davor; Šantić, Ana; Juraić, Krunoslav; Gajović, Andreja; Čeh, MiranThe optical and electrical properties of amorphous- nano-crystalline Si // 6th International Meeting on Developments in Materials, Processes and Applications of Emerging Technologies (MPA 2012)
Alvor, Portugal, 2012. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
72.Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Djerdj, Igor; Lausi, Andrea; Čeh, Miran; Balzar, DavorNano Structure of In-homogeneous Amorphous-nano-crystalline Si Thin Films by Grazing Incidence X-ray Diffraction // BITS 1st Annual Conference and Expo of Analytix-2012 / Xiaodan Mei (ur.).
Peking: BIT Congress Inc., 2012. str. 145-145 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
73.Đerđ, Igor; Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Meljanac, Daniel; Bogdanović Radović, Ivančica; Pletikapić, GaljaStructural analysis of monolayered and bilayered SnO2 thin films // Surface & coatings technology, 211 (2012), 24-28 doi:10.1016/j.surfcoat.2011.06.045 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
74.Juraić, Krunoslav; Gracin, Davor; Djerdj, Igor; Lausi, Andrea; Čeh, Miran; Balzar, DavorStructural Analysis of Amorphous-Nanocrystalline Silicon Thin Films by Grazing Incidence X-ray Diffraction // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 284 (2012), 78-82 doi:10.1016/j.nimb.2011.07.018 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
75.Gracin, Davor; Juraić, Krunoslav; Gajović, Andreja; Vaneček, Milan; Čeh, MiranNano-strukturirani filmovi silicija za slijedeću generaciju solarnih ćelija // Knjiga sažetaka: Sedmi znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva / Gajović, A (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2011. str. 95-95 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
