Pregled po CROSBI profilu: Branko Pivac (CROSBI Profil: 19833, MBZ: 67912)
Pronađeno 231 radova
-
176.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Zulim, IvanX-Ray Reflectivity and GISAXS Study of Derelaxation in Kr Implanted Si // Application of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science VI / Allen, P.G. ; Mini, S.M. ; Perry, D.L. ; Stock, S.R. (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. EE6.4.1-EE6.4.6 -
177.Radić, Nikola; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoIspitivanje tankih slojeva volfram-ugljik slitina metodom Ramanske spektroskopije // Knjiga sažetaka Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva / Jakšić, Milko ; Kokanović, Ivan ; Milošević, Slobodan (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društva, 2001. str. 131-131 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
178.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman study of a-WC thin films // E-MRS 2001 Spring Meeting Book of Abstracts / Glasow, P. ; Priolo, F. (ur.).
Strasbourg: European Materials Research Society, 2001. str. C-34 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
179.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Biljanović, Petar; Pivac, Branko; Zulim, IvanCapacitance Behaviour of np Crystalline Silicon and n-i-p Amorphous-silicon Photodiode for Color Detection // MIPRO 2001, 24th International Convention : Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2001. str. 11-13 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
180.Jakšić, Milko; Borjanović, Vesna; Pastuović, Željko; Bogdanović Radović, Ivančica; Skukan, Natko; Pivac, BrankoIBICC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 181 (2001), 298-304 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
181.Sassella, A.; Borghesi, A.; Pivac, Branko; Porrini, M.Evaluation of the precipitate contribution to the infrared absortion of interstitial oxygen measurements in silicon // Applied Physics Letters, 79 (2001), 4106-4108 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
182.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Zulim, IvanStructural changes in amorphous silicon annealed at low temperatures // Amorphous and Heterogeneous Silicon-Based Films - 2001 / Stutzmann, M. ; Boyce, J.B. ; Cohen, J.D. ; Collins, R.W. ; Hanna, J (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. A19.9.1-A19.9.6 -
183.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaPoint defects in carbon rich poly-Si // Polycrystalline Semiconductors IV - Bulk Materials, Thin Films, and Devices / Bonnaud, O. ; Mohammed-Brahim, T. ; Strunk, H.P. ; Werner, J.H. (ur.).
Uetikon: Scitech Publications, 2001. str. 115-120 -
184.Grozdanić, Daniela; Milat, O.; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Grain boundary defects in RTCVD polycrystalline silicon for solar cells // Vacuum, 61 (2001), 2-4; 257-262 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
185.Borjanović, VesnaInterakcija laganih i nedopirajućih primjesa sa strukturnim defektima u siliciju, 2001., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
186.Kovačević, IvanaUtjecaj strukturnih defekata na komplekse kisika i ugljika u siliciju, 2001., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
187.Pivac, Branko; Borjanović, V.; Kovačević, I.; Zulim, IvanDeep Level Defects in Oxygen Doped EFG Poly-Si // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 276-279 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
188.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, Ivan; Gradišnik, VeraEffects Of Light Soaking On Amorphous Silicon // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 884-887 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
189.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoTHE MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED TUNGSTEN-CARBON THIN FILMS // Physik-Event OPG 2000 / Lippitsch, Max (ur.).
Graz: Oesterreichische Physikalische Gesellschaft, 2000. str. 179-179 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
190.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoSTRUCTURE AND MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED W-C ALLOYS // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 30-30 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
191.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman scattering from sputter deposited a-WC thin films // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 20-20 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
192.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // 8th joint vacuum conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 50-50 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
193.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Borjanović, VesnaIBIC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // 7th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications, Final Program and Abstracts
Bordeaux: ICNMTA 2000, 2000. str. 33-33 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
194.Grozdanić, DanijelaIstraživanje defekata u nanokristaliničnom siliciju elektronskom paramagnetskom rezonancijom, 2000., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
195.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe transient behaviour and charge analysis of np silicon colour detector // Proceedings of 36th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials / Hrovat, M. ; Kosec, M. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2000. str. 241-246 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
196.Grozdanić, Daniela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Electron paramagnetic resonance study of defects in rapid thermal chemical vapor deposition polycrystalline silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 69 (2000), Special issue; 549-552 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
197.Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Electron paramagnetic resonance study of S2 defects in hydrogen-implanted silicon // Nuclear instruments and methods in physics research B, 170 (2000), 1-2; 125-133 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
198.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, IvanaIntrinsic point defects in polycrystalline silicon // Fizika A, 9 (2000), 1; 37-46 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
199.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.EPR study of He implanted Si // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 73 (2000), 1-2; 60-63 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
200.Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Bernstorff, S.; Amenitsch, H.; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.GISAXS study of defects in He implanted silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 71 (2000), Special issue SI; 82-86 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
