Pregled po CROSBI profilu: Branko Pivac (CROSBI Profil: 19833, MBZ: 67912)
Pronađeno 231 radova
-
151.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H PhotodiodeTransient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
152.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Markevich, Vladimir; Peaker, TonyNeutron irradiation studies, a preliminary look for Si interstitials // Book of abstracts / Peaker, A.R. (ur.).
Manchester: UMIST, 2002. str. 23-23 (predavanje, neobjavljeni rad, znanstveni) -
153.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanStudy of the Color Detection of a-Si:H by Transient Response in the Visible Range // IEEE Transactions on Electron Devices, 49 (2002), 4; 550-556 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
154.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H Photodiode Transient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, Inc., 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
155.Pivac, Branko; Ilić, Saša; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.Gap states produced by oxygen precipitation in czochralski silicon // Final Programme and Book of Abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
156.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 77-77 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
157.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 42-42 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
158.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, Ivan; Vlahović, BranislavIBICC studies of polycrystalline silicon // Preliminary Program
New Orleans (LA): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2002. str. 1P25-1P25 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
159.Grozdanić, Danijela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon // Zbornik radova / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. (poster, sažetak, znanstveni) -
160.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaImplantacija C+ u Si // Zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. str. 22-22 (poster, sažetak, znanstveni) -
161.Pivac, Branko; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Etlinger, Božidar; Zulim, IvanLight induced defects in amorhous silicon thin films // JVC-9 9th Joint Vacuum Conference Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, Graz University of Technology, 2002. str. 79-79 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
162.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, GianpieroGrazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
163.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, GianpieroGISAXS study of defects in deuterium implanted monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
164.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.SAXS study of oxygen precipitation in silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
165.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R. Corni, F.; Ottaviani, GGISAXS study of hydrogen implanted silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
166.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Grazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon, 2002. (podatak o recenziji nije dostupan, izvještaj).
-
167.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R; Corni, F; Ottaviani, GReply to comments on 'EPR study of He-implanted Si' by P. Pivac, B. Rakvin, R. Tonini, F. Corni, G. Ottaizani, Published in Mater. Sci. Eng. B73 (2000) 60-63 - Written by M. Kakazey, M. Vlasova, and J.G. Gonzalez-Rodriguez - Reply to discussio // Materials Science & Engineering B-Solid State Materials for Advanced Technology, 90 (2002), 1-2; 211-212 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
168.Pivac, Branko; Desnica, Uroš; Desnica-Franović, Ida-Dunja; Etlinger, Božidar; Dubček, Pavo; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Buljan, MajaUtjecaj defekata i nanostruktura na svojstva poluvodiča // Znanstveno-stručni skup Nanomreža
Zagreb, Hrvatska, 2002. (predavanje, neobjavljeni rad, ostalo) -
169.Mikšić, VesnaDefekti u siliciju nastali implantacijom vodika, 2002., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
170.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 183-189 doi:10.1016/S0927-0248(01)00163-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
171.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Evtody, B.N.; Katz, E.Comparative studies of EFG ribbon poly-Si grown by different procedures // Solar energy materials and solar cells, 72 (2002), 1-4; 165-171 doi:10.1016/S0927-0248(01)00161-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
172.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanDefects introduced in amorphous silicon thin films by light soaking // Thin solid films, 403-404 (2002), 513-516 doi:10.1016/S0040-6090(01)01649-2 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
173.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaDefects in carbon and oxygen implanted p-type silicon // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B, 186 (2002), 355-359 doi:10.1016/S0168-583X(01)00917-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
174.Mikšić, Vesna; Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Zorc, Hrvoje; Corni, F.; Tonini, R.; Ottaviani, G.DLTS and EPR study of defects in H implanted silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 186 (2002), 1/4; 36-40 doi:10.1016/S0168-583X(01)00919-3 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
175.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Vlahović, Branislav; Dutta, J.; Ječmenica, RadeDefects in polycristalline silicon studied by IBICC // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 487-494 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
