Pregled po CROSBI profilu: Branko Pivac (CROSBI Profil: 19833, MBZ: 67912)
Pronađeno 231 radova
-
126.Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Zorc, Hrvoje; Radić, Nikola; Pivac, Branko; Bernstorff, SigridCharacterization of Ge islands on Si (100) substrates // Program and Book of Anstracts / Mozetić, M. ; Šetina, J. ; Kovač, J. (ur.).
Ljubljana: Infokart, d.o.o., 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
127.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, RitaGISAXS study of hydrogen implanted silicon // Journal of alloys and compounds, 382 (2004), 1-2; 75-77 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
128.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Transient Photo-dark Current Ratio of a-Si:H p-i-n Photodiode // Proceedings of the 12th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference / Matijašević, Maja ; Pejčinović, Branimir ; Tomšić, Željko ; Butković, Željko (ur.).
Zagreb: The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., 2004. str. 27-29 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
129.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Zulim, IvanStudy of structural changes in Krypton implanted silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 215 (2004), 122-128 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
130.Kovačević, IvanaTemperaturna ovisnost uvođenja defekata u siliciju nastalih gama zračenjem, 2004., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
131.Kovačević, Ivana; Markevich, Vladimir; Hawkins, Ian; Pivac, Branko; Peaker, AnthonyVacancy related complexes in neutron irradiated silicon // Book of abstracts
Catania, 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
132.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoTemperaturna ovisnost uvođenja defekata u siliciju nastalih gama zračenjem // International school on radiation effects in solids
Erice, Italija, 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, neobjavljeni rad, ostalo) -
133.Ilić, SašaIstraživanje precipitacije kisika u siliciju, 2004., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički, Zagreb
-
134.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanEffects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films // Programme of 19th EU PV Solar Energy Conference / Bal, J.-L. ; Silvestrini, G. ; Grassi, A. ; Palz, W. ; Vigotti, R. ; Gamberale, M. ; Helm, P. (ur.).
München: WIP-Munich, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
135.Pivac, BrankoFizika i kemija materijala na nanoskali // HAZU, Bilten razreda za tehničke znanosti, 1 (2003), -; 19-29 (podatak o recenziji nije dostupan, kongresno priopcenje, stručni)
-
136.Pivac, Branko; Sassella, A.; Borghesi, A.Recent Advances in the Measurement of Interstitial Oxygen in Silicon by Infra-Red Spectroscopy // Diffusion and defect data, solid state data. Part A, Defect and diffusion forum, 221-223 (2003), -; 123-131 (međunarodna recenzija, pregledni rad, znanstveni)
-
137.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe a-Si:h p-i-n color detector Response Time on Modulated Illumination // Proceedings of Eurocon 2003 / Zajc, Baldomir ; Tkalčič, Marko (ur.).
Ljubljana: IEEE Region 8 Slovenia section, 2003. str. 122-124 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
138.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe a-Si:H p-i-n Photodiode Transient Response on Simultaneous Light and Voltage Pulse // Proceedings 39th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, MIDEM 2003 / Pignatel, Giorgio ; Žemva, Andrej ; Šorli, Iztok (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2003. str. 311-316 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
139.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Vacuum, 71 (2003), 129-133 doi:10.1016/S0042-207X(02)00726-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
140.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, GiampieroGrazing incidence small-angle X-ray scattering study of defects in deuterium implanted monocrystalline silicon // Journal of applied crystallography, 36 (2003), 447-449 doi:10.1107/S0021889803000360 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
141.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe influence of blue light to a-Si:H photodiode voltage pulse transient response // MIPRO 2003, 26th International Convention : Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2003. str. 59-61 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
142.Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Nobili, C.; Tonini, RitaEarly stages of bubble formation in helium-implanted (100) silicon // Physica status solidi. A, Applied research, 198 (2003), 1; 29-37 doi:10.1002/pssa.200306457 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
143.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Borghesi, Alessandro; Sassella, Adele; Porrini, MariaSmall angle X-ray scattering study of oxygen precipitation in silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 200 (2003), 105-109 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
144.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff Sigrid; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, GiampieroGISAXS study of structural relaxation in amorphous silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 200 (2003), 110-113 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
145.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Vacuum, 71 (2003), 117-122 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
146.Pivac, Branko; Ilić, Saša; Borghesi, Alessandro; Sassella, Adele; Porrini, MariaGap states produced by oxygen precipitation in czochralski silicon // Vacuum, 71 (2003), 141-145 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
147.Pivac, Branko; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Etlinger, Božidar; Zulim, IvanUV light induced defects in amorphous silicon thin films // Vacuum, 71 (2003), 135-139 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
148.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Markevich, Vladimir; Peaker, TonyNeutron Irradiation Induced Defects in Silicon // Proceedings of "Physics of Group IV Semiconductors" / Jones, R. ; Freeman, J. (ur.).
Exeter: University of Exxeter, 2003. str. 45-45 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
149.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, IvanIBIC studies of oxygen doped polycrystalline silicon // 2nd aSiNet Workshop on Thin Silicon and 9th Euroregional Workshop on Thin Silicon Devices, Book of Abstracts / Shubert, Markus B. ; Conde, Joao P. (ur.).
Lisabon: Instituto Superior Técnico, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
150.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Kovačević, Ivana; Bernstorff, Sigrid; Zulim, Ivan;Structural changes in amorphous silicon at low temperatures // 2nd aSiNet Workshop on Thin Silicon and 9th Euroregional Workshop on Thin Silicon Devices, Book of Abstracts / Shubert, Markus B. ; Conde, Joao P. (ur.).
Lisabon: Instituto Superior Técnico, 2003. (predavanje, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
