Pregled po CROSBI profilu: Branko Pivac (CROSBI Profil: 19833, MBZ: 67912)
Pronađeno 231 radova
-
101.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Jačimović, R.; Khan, M.K.; Markevich, V.P.; Peaker, A.R.Defects induced by irradiation with fast neutrons in n-type germanium // Materials science in semiconductor processing, 9 (2006), 4-5; 606-612 doi:10.1016/j.mssp.2006.08.033 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
102.Capan, IvanaElectrically active defects in silicon and germanium induced by radiation, 2006., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
103.Bernstorff, S.; Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Sassella, A.; Borghesi, A.;XRR and GISAXS study of silicon oxynitride films // Applied surface science, 253 (2006), 1; 33-37 doi:10.1016/j.apsusc.2006.05.068 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
104.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, F.; Tonini, R.; Ottaviani, G.X-ray reflectivity study of hydrogen implanted silicon // Applied Surface Science, 253 (2006), 283-286 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
105.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, Ivan;Transient Response Times of a-Si:H p-i-n Color Detector // IEEE Transactions on Electron devices, 53 (2006), 10; 2485-2491 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
106.Radić, Nikola; Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Kovačević, Ivana; Bernstorff, Sigrid;Growth of Ge islands on Si substrates // Thin solid films, 515 (2006), 2; 752-755 doi:10.1016/j.tsf.2005.12.198 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
107.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, SigridGISAXS study of Si nanocrystals formation in SiO2 thin films // Thin solid films, 515 (2006), 2; 756-758 doi:10.1016/j.tsf.2005.12.192 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
108.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Kovačević, Ivana; Bernstorff, S.; Mu, R.; Wu, M.; Ueda, A.; Vlahović, BranislavGISAXS study of gold implanted fused silica // Scripta materialia, 55 (2006), 2; 135-138 doi:10.1016/j.scriptamat.2006.03.049 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
109.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, S.; Slaoui, A.Self-organized growth of Ge islands on Si (100) substrates // Thin solid films, 511-512 (2006), 153-156 doi:10.1016/j.tsf.2005.12.089 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
110.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, S.; Slaoui, A.A GISAXS study of SiO/SiO2 superlattice // Thin solid films, 511-512 (2006), 463-467 doi:10.1016/j.tsf.2005.12.028 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
111.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, Sigrid; Slaoui, AbdelilahGISAXS study of SiO/SiO2 superlattice, 2005. (podatak o recenziji nije dostupan, izvještaj).
-
112.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, SigridSelf-organized growth of Ge islands on Si(100) substrates, 2005. (podatak o recenziji nije dostupan, izvještaj).
-
113.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Radić, Nikola; Bernstorff, Sigrid; Vlahović, Branislav; Zulim, IvanStudy of Ge islands on Si (100) substrates // Proceedings of 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference / Palz, W. ; Ossenbrink, H. ; Helm, P. (ur.).
München: WIP-Munich, 2005. str. 421-423 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
114.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoDefects production in gamma irradiated silicon at different temperatures // Vacuum, 80 (2005), 1-3; 223-228 doi:10.1016/j.vacuum.2005.08.002 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
115.Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Zorc, Hrvoje; Radić, Nikola; Pivac, Branko; Bernstorff, SigridGISAXS characterization of Ge islands on Si (100) substrates // Vacuum, 80 (2005), 1-3; 69-73 doi:10.1016/j.vacuum.2005.07.027 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
116.Pivac, Branko; Kovačević, IvanaInfluence of light impurities on dislocation-related deep levels in p-type silicon // 12. Međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika : zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2005. str. 27-27 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
117.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Zorc, Hrvoje; Radić, NikolaSelf-organized growth of Ge islands on Si(100) substrates // 12. Međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika : zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2005. str. 28-28 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
118.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoTemperaturna ovisnost uvođenja defekata u siliciju nastalih gama zračenjem // 12. Međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika : zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2005. str. 28-28 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
119.Kovačević, Ivana; Markevich, V.P.; Hawkins, I.D.; Pivac, Branko; Peaker, A.R.Vacancy-related complexes in neutron-irradiated silicon // Journal of physics. Condensed matter, 17 (2005), S2229-S2235 doi:10.1088/0953-8984/17/22/010 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
120.Švrček, V.; Rehspringer, J.L.; Slaoui, A.; Pivac, Branko; Muller, J.-C.Clustering/declustering of silicon nanocrystals in spin-on glass solutions // Semiconductor science and technology, 20 (2005), 314-319 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
121.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoInfluence of light impurities on dislocation-related deep levels in p-type silicon // Book of Abstracts of 11th Euregional Workshop on Thin Silicon Devices / Zeman, Miro (ur.).
Delft: TU Delft, 2005. str. 24-24 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
122.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanEffects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films // Proceedings of 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference / Bal, J.-L. ; Silvestrini, G. ; Grassi, A. ; Palz, W. ; Vigotti, R. ; Gamberale, M. ; Helm, P. (ur.).
München: WIP-Munich, Sylveinsteinstr. 2, D-81369 Muenchen, 2004, 2004. str. 1530-1532 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
123.Dubček, Pavo; Kovačević, Ivana; Radić, Nikola; Zorc, Hrvoje; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Campione, A.; Borghesi, A.GISAXS and AFM study of Germanium islands on silicon // IVC-16 (16th International Vacuum Congress) ICSS-12 (12th INternational Conference on Solid Surfaces) NANO-8 (8th Int. Conference on Nanometer Scale Science and Technology) AIV-17 (17th Vacuum National Symposium) CD-ROM: Book 2 - Poster Sessions / Sancrotti, Massimo (ur.).
Venecija: IUVSTA & Associazione Italiana del Vuoto, 2004. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
124.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanEffects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films // 19th European Photovoltaic Solar Energy Conference, 7-11 June 2004, Palais des Congres, Paris, France / J.-L.Bal, G.Silvestrini, A.Grassi, W. Palz, R. Vigotti, M. Gamberale, P. Helm (ur.).
München: WIP-Munich, Sylveinsteinstr. 2, D-81369 München, 2004. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
125.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoTemperature dependent defect production in gamma-irradiated silicon // Program and Book of Abstracts / Mozetić, M. ; Šetina, J. ; Kovač, J. (ur.).
Ljubljana: Infokart, d.o.o., 2004. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
126.Kovačević, Ivana; Dubček, Pavo; Zorc, Hrvoje; Radić, Nikola; Pivac, Branko; Bernstorff, SigridCharacterization of Ge islands on Si (100) substrates // Program and Book of Anstracts / Mozetić, M. ; Šetina, J. ; Kovač, J. (ur.).
Ljubljana: Infokart, d.o.o., 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
127.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, RitaGISAXS study of hydrogen implanted silicon // Journal of alloys and compounds, 382 (2004), 1-2; 75-77 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
128.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Transient Photo-dark Current Ratio of a-Si:H p-i-n Photodiode // Proceedings of the 12th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference / Matijašević, Maja ; Pejčinović, Branimir ; Tomšić, Željko ; Butković, Željko (ur.).
Zagreb: The Institute of Electrical and Electronic Engineers, Inc., 2004. str. 27-29 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
129.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Zulim, IvanStudy of structural changes in Krypton implanted silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 215 (2004), 122-128 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
130.Kovačević, IvanaTemperaturna ovisnost uvođenja defekata u siliciju nastalih gama zračenjem, 2004., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
131.Kovačević, Ivana; Markevich, Vladimir; Hawkins, Ian; Pivac, Branko; Peaker, AnthonyVacancy related complexes in neutron irradiated silicon // Book of abstracts
Catania, 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
132.Kovačević, Ivana; Pivac, BrankoTemperaturna ovisnost uvođenja defekata u siliciju nastalih gama zračenjem // International school on radiation effects in solids
Erice, Italija, 2004. (predavanje, međunarodna recenzija, neobjavljeni rad, ostalo) -
133.Ilić, SašaIstraživanje precipitacije kisika u siliciju, 2004., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički, Zagreb
-
134.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanEffects of Light Soaking on Amorphous Silicon Thin Films // Programme of 19th EU PV Solar Energy Conference / Bal, J.-L. ; Silvestrini, G. ; Grassi, A. ; Palz, W. ; Vigotti, R. ; Gamberale, M. ; Helm, P. (ur.).
München: WIP-Munich, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
135.Pivac, BrankoFizika i kemija materijala na nanoskali // HAZU, Bilten razreda za tehničke znanosti, 1 (2003), -; 19-29 (podatak o recenziji nije dostupan, kongresno priopcenje, stručni)
-
136.Pivac, Branko; Sassella, A.; Borghesi, A.Recent Advances in the Measurement of Interstitial Oxygen in Silicon by Infra-Red Spectroscopy // Diffusion and defect data, solid state data. Part A, Defect and diffusion forum, 221-223 (2003), -; 123-131 (međunarodna recenzija, pregledni rad, znanstveni)
-
137.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe a-Si:h p-i-n color detector Response Time on Modulated Illumination // Proceedings of Eurocon 2003 / Zajc, Baldomir ; Tkalčič, Marko (ur.).
Ljubljana: IEEE Region 8 Slovenia section, 2003. str. 122-124 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
138.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe a-Si:H p-i-n Photodiode Transient Response on Simultaneous Light and Voltage Pulse // Proceedings 39th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials, MIDEM 2003 / Pignatel, Giorgio ; Žemva, Andrej ; Šorli, Iztok (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2003. str. 311-316 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
139.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Vacuum, 71 (2003), 129-133 doi:10.1016/S0042-207X(02)00726-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
140.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, GiampieroGrazing incidence small-angle X-ray scattering study of defects in deuterium implanted monocrystalline silicon // Journal of applied crystallography, 36 (2003), 447-449 doi:10.1107/S0021889803000360 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
141.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe influence of blue light to a-Si:H photodiode voltage pulse transient response // MIPRO 2003, 26th International Convention : Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2003. str. 59-61 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
142.Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Nobili, C.; Tonini, RitaEarly stages of bubble formation in helium-implanted (100) silicon // Physica status solidi. A, Applied research, 198 (2003), 1; 29-37 doi:10.1002/pssa.200306457 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
143.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Borghesi, Alessandro; Sassella, Adele; Porrini, MariaSmall angle X-ray scattering study of oxygen precipitation in silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 200 (2003), 105-109 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
144.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff Sigrid; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, GiampieroGISAXS study of structural relaxation in amorphous silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 200 (2003), 110-113 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
145.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Vacuum, 71 (2003), 117-122 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
146.Pivac, Branko; Ilić, Saša; Borghesi, Alessandro; Sassella, Adele; Porrini, MariaGap states produced by oxygen precipitation in czochralski silicon // Vacuum, 71 (2003), 141-145 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
147.Pivac, Branko; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Etlinger, Božidar; Zulim, IvanUV light induced defects in amorphous silicon thin films // Vacuum, 71 (2003), 135-139 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
148.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Markevich, Vladimir; Peaker, TonyNeutron Irradiation Induced Defects in Silicon // Proceedings of "Physics of Group IV Semiconductors" / Jones, R. ; Freeman, J. (ur.).
Exeter: University of Exxeter, 2003. str. 45-45 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
149.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, IvanIBIC studies of oxygen doped polycrystalline silicon // 2nd aSiNet Workshop on Thin Silicon and 9th Euroregional Workshop on Thin Silicon Devices, Book of Abstracts / Shubert, Markus B. ; Conde, Joao P. (ur.).
Lisabon: Instituto Superior Técnico, 2003. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
150.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Kovačević, Ivana; Bernstorff, Sigrid; Zulim, Ivan;Structural changes in amorphous silicon at low temperatures // 2nd aSiNet Workshop on Thin Silicon and 9th Euroregional Workshop on Thin Silicon Devices, Book of Abstracts / Shubert, Markus B. ; Conde, Joao P. (ur.).
Lisabon: Instituto Superior Técnico, 2003. (predavanje, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
151.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H PhotodiodeTransient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
152.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Markevich, Vladimir; Peaker, TonyNeutron irradiation studies, a preliminary look for Si interstitials // Book of abstracts / Peaker, A.R. (ur.).
Manchester: UMIST, 2002. str. 23-23 (predavanje, neobjavljeni rad, znanstveni) -
153.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanStudy of the Color Detection of a-Si:H by Transient Response in the Visible Range // IEEE Transactions on Electron Devices, 49 (2002), 4; 550-556 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
154.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H Photodiode Transient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, Inc., 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
155.Pivac, Branko; Ilić, Saša; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.Gap states produced by oxygen precipitation in czochralski silicon // Final Programme and Book of Abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
156.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 77-77 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
157.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 42-42 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
158.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, Ivan; Vlahović, BranislavIBICC studies of polycrystalline silicon // Preliminary Program
New Orleans (LA): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2002. str. 1P25-1P25 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
159.Grozdanić, Danijela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon // Zbornik radova / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. (poster, sažetak, znanstveni) -
160.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaImplantacija C+ u Si // Zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. str. 22-22 (poster, sažetak, znanstveni) -
161.Pivac, Branko; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Etlinger, Božidar; Zulim, IvanLight induced defects in amorhous silicon thin films // JVC-9 9th Joint Vacuum Conference Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, Graz University of Technology, 2002. str. 79-79 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
162.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, GianpieroGrazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
163.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, GianpieroGISAXS study of defects in deuterium implanted monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
164.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.SAXS study of oxygen precipitation in silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
165.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R. Corni, F.; Ottaviani, GGISAXS study of hydrogen implanted silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
166.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Grazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon, 2002. (podatak o recenziji nije dostupan, izvještaj).
-
167.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R; Corni, F; Ottaviani, GReply to comments on 'EPR study of He-implanted Si' by P. Pivac, B. Rakvin, R. Tonini, F. Corni, G. Ottaizani, Published in Mater. Sci. Eng. B73 (2000) 60-63 - Written by M. Kakazey, M. Vlasova, and J.G. Gonzalez-Rodriguez - Reply to discussio // Materials Science & Engineering B-Solid State Materials for Advanced Technology, 90 (2002), 1-2; 211-212 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
168.Pivac, Branko; Desnica, Uroš; Desnica-Franović, Ida-Dunja; Etlinger, Božidar; Dubček, Pavo; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Buljan, MajaUtjecaj defekata i nanostruktura na svojstva poluvodiča // Znanstveno-stručni skup Nanomreža
Zagreb, Hrvatska, 2002. (predavanje, neobjavljeni rad, ostalo) -
169.Mikšić, VesnaDefekti u siliciju nastali implantacijom vodika, 2002., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
170.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 183-189 doi:10.1016/S0927-0248(01)00163-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
171.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Evtody, B.N.; Katz, E.Comparative studies of EFG ribbon poly-Si grown by different procedures // Solar energy materials and solar cells, 72 (2002), 1-4; 165-171 doi:10.1016/S0927-0248(01)00161-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
172.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanDefects introduced in amorphous silicon thin films by light soaking // Thin solid films, 403-404 (2002), 513-516 doi:10.1016/S0040-6090(01)01649-2 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
173.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaDefects in carbon and oxygen implanted p-type silicon // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B, 186 (2002), 355-359 doi:10.1016/S0168-583X(01)00917-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
174.Mikšić, Vesna; Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Zorc, Hrvoje; Corni, F.; Tonini, R.; Ottaviani, G.DLTS and EPR study of defects in H implanted silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 186 (2002), 1/4; 36-40 doi:10.1016/S0168-583X(01)00919-3 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
175.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Vlahović, Branislav; Dutta, J.; Ječmenica, RadeDefects in polycristalline silicon studied by IBICC // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 487-494 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
176.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Zulim, IvanX-Ray Reflectivity and GISAXS Study of Derelaxation in Kr Implanted Si // Application of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science VI / Allen, P.G. ; Mini, S.M. ; Perry, D.L. ; Stock, S.R. (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. EE6.4.1-EE6.4.6 -
177.Radić, Nikola; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoIspitivanje tankih slojeva volfram-ugljik slitina metodom Ramanske spektroskopije // Knjiga sažetaka Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva / Jakšić, Milko ; Kokanović, Ivan ; Milošević, Slobodan (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društva, 2001. str. 131-131 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
178.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman study of a-WC thin films // E-MRS 2001 Spring Meeting Book of Abstracts / Glasow, P. ; Priolo, F. (ur.).
Strasbourg: European Materials Research Society, 2001. str. C-34 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
179.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Biljanović, Petar; Pivac, Branko; Zulim, IvanCapacitance Behaviour of np Crystalline Silicon and n-i-p Amorphous-silicon Photodiode for Color Detection // MIPRO 2001, 24th International Convention : Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2001. str. 11-13 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
180.Jakšić, Milko; Borjanović, Vesna; Pastuović, Željko; Bogdanović Radović, Ivančica; Skukan, Natko; Pivac, BrankoIBICC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 181 (2001), 298-304 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
181.Sassella, A.; Borghesi, A.; Pivac, Branko; Porrini, M.Evaluation of the precipitate contribution to the infrared absortion of interstitial oxygen measurements in silicon // Applied Physics Letters, 79 (2001), 4106-4108 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
182.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Zulim, IvanStructural changes in amorphous silicon annealed at low temperatures // Amorphous and Heterogeneous Silicon-Based Films - 2001 / Stutzmann, M. ; Boyce, J.B. ; Cohen, J.D. ; Collins, R.W. ; Hanna, J (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. A19.9.1-A19.9.6 -
183.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaPoint defects in carbon rich poly-Si // Polycrystalline Semiconductors IV - Bulk Materials, Thin Films, and Devices / Bonnaud, O. ; Mohammed-Brahim, T. ; Strunk, H.P. ; Werner, J.H. (ur.).
Uetikon: Scitech Publications, 2001. str. 115-120 -
184.Grozdanić, Daniela; Milat, O.; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Grain boundary defects in RTCVD polycrystalline silicon for solar cells // Vacuum, 61 (2001), 2-4; 257-262 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
185.Borjanović, VesnaInterakcija laganih i nedopirajućih primjesa sa strukturnim defektima u siliciju, 2001., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
186.Kovačević, IvanaUtjecaj strukturnih defekata na komplekse kisika i ugljika u siliciju, 2001., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
187.Pivac, Branko; Borjanović, V.; Kovačević, I.; Zulim, IvanDeep Level Defects in Oxygen Doped EFG Poly-Si // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 276-279 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
188.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, Ivan; Gradišnik, VeraEffects Of Light Soaking On Amorphous Silicon // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 884-887 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
189.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoTHE MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED TUNGSTEN-CARBON THIN FILMS // Physik-Event OPG 2000 / Lippitsch, Max (ur.).
Graz: Oesterreichische Physikalische Gesellschaft, 2000. str. 179-179 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
190.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoSTRUCTURE AND MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED W-C ALLOYS // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 30-30 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
191.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman scattering from sputter deposited a-WC thin films // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 20-20 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
192.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // 8th joint vacuum conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 50-50 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
193.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Borjanović, VesnaIBIC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // 7th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications, Final Program and Abstracts
Bordeaux: ICNMTA 2000, 2000. str. 33-33 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
194.Grozdanić, DanijelaIstraživanje defekata u nanokristaliničnom siliciju elektronskom paramagnetskom rezonancijom, 2000., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
195.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe transient behaviour and charge analysis of np silicon colour detector // Proceedings of 36th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials / Hrovat, M. ; Kosec, M. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2000. str. 241-246 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
196.Grozdanić, Daniela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Electron paramagnetic resonance study of defects in rapid thermal chemical vapor deposition polycrystalline silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 69 (2000), Special issue; 549-552 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
197.Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Electron paramagnetic resonance study of S2 defects in hydrogen-implanted silicon // Nuclear instruments and methods in physics research B, 170 (2000), 1-2; 125-133 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
198.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, IvanaIntrinsic point defects in polycrystalline silicon // Fizika A, 9 (2000), 1; 37-46 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
199.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.EPR study of He implanted Si // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 73 (2000), 1-2; 60-63 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
200.Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Bernstorff, S.; Amenitsch, H.; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.GISAXS study of defects in He implanted silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 71 (2000), Special issue SI; 82-86 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
