Pregled po CROSBI profilu: Vladimir Jovanović (CROSBI Profil: 17252, MBZ: 233236)
Pronađeno 70 radova
-
51.Zhang, Jianjun; Stoffel, Mathieu; Rastelli, Armando; Schmidt, Oliver G.; Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis K.; Bauer, GuentherSiGe growth on patterned Si(001) substrates: Surface evolution and evidence of modified island coarsening // Applied Physics Letters, 91 (2007), 17; 173115-1 doi:10.1063/1.2802555 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
52.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavTechnological constrains of bulk FinFET structure in comparison with SOI FinFET // Proceedings of International Semiconductor Device Research Symposium / Jones, K. (ur.).
College Park (MD), 2007. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
53.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical Silicon-on-Nothing FET: Treshold Voltage Calculation Using Compact Capacitance Model // 2007 International Semiconductor Device Research Symposium / Jones, Ken (ur.).
Sjedinjene Američke Države, 2007. (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
54.Jovanović, Vladimir; Milosavljević, Silvana; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav; Biljanović, PetarSub-100 nm Silicon Nitride Hard-Mask for High Aspect Ratio Silicon Fins // Proceedings of MIPRO 2007, MEET & HGS / Biljanović, P. ; Skala, K. (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007. str. 62-66 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
55.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical silicon-on-nothing FET: analytical model of subthreshold slope // 43rd INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS, DEVICES AND MATERIALS AND THE WORKSHOP ON ELECTRONIC TESTING / Trontelj, J. ; Novak, F. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2007. str. 71-74 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
56.Shi, Lei; Lorito, Gianpaolo; Jovanović, Vladimir; Fregonese, Sebastien; Nanver, Lis K.JFET test structures for monitoring strain-enhanced mobility // Proceedings of 9th Annual Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics and Sensors, SAFE 2006
Veldhoven, Nizozemska, 2006. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
57.Jovanović, Vladimir; Milosavljević, Silvana; Nanver, Lis K.; Suligoj, TomislavApplication of spacer hard-masks for sub-100 nm wide silicon fin-etching // Proceedings of 9th Annual Workshop on Semiconductor Advances for Future Electronics and Sensors, SAFE 2006
Veldhoven, Nizozemska, 2006. (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
58.Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Schulze, Joerg; Eisele, Ignaz; Jernigan, Glenn; Thompson, Phill E.Characteristics of 30 nm Long Vertical Silicon-on-Nothing (SON) MOSFET // Proceedings of MIPRO 2005
Opatija, Hrvatska, 2005. (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
59.Radinković, Ivica; Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Schulze, Joerg; Eisele, Ignaz; Jernigan, Glenn; Thompson, Phillip E.Scaling Properties of Vertical Silicon-on-Nothing (SON) MOSFETs // Proceedings / MIPRO 2004 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Zagreb: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2004. str. 49-52 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
60.Jovanović, Vladimir; Perić, Mario; Sviličić, Boris; Biljanović, PetarInductive Influences in VLSI Interconnect // 27th International Convention MIPRO 2004 : proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2004. str. 74-77 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
61.Jovanović, VladimirKarakteristike VLSI prospojnih mreža, 2004., magistarski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
62.Lamešić, MarioAnaliza i modeliranje metalnih vodova integriranih sklopova, 2004., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
63.Nenadić, IvanElektrička svojstva prospojnih metalnih vodova u VLSI integriranim sklopovima, 2003., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
64.Jovanović, Vladimir; Perić, Mario; Biljanović, PetarInductive Influence on Propagation Delay of IC Interconnect // Proceedings of The 39th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM 2003) Conference / Pignatel, Giorgio ; Žemva, Andrej ; Šorli, Iztok (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2003. str. 199-204 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
65.Jovanović, VladimirOn-Chip Capacitance Extraction Methods // Proc. MIPRO 2003 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2003. str. 79-83 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), pregledni) -
66.Jovanović, Vladimir; Šinkić, Marko; Biljanović, PetarOn-chip Interconnect Inductance Extraction and Analysis // Proceedings of MIPRO 2002 / Biljanović, Petar; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2002. str. 17-20 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
67.Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Biljanović, PetarVoltage and Concentration Dependance of High Frequency Parameters of Narrow Base Bipolar Transistors // Proceedings of MIPRO 2000 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: MIPRO 2000, 2000. str. 9-15 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
68.Jovanović, VladimirHCBT tehnologija, 1999., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
69.Matijević, Miroslav; Koričić, Marko; Jovanović, Vladimir; Barić, AdrijanReverse Engineering of a Gallium Arsenide Integrated Circuit // Proceedings of MIPRO '99 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: MIPRO, Croatia, 1999. str. 66-69 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
70.Jovanović, Vladimir; Butković ŽeljkoDesign and Delay-time Analysis of a 4-bit CMOS Mirror Adder // Proceedings of MIPRO '99 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: MIPRO, Croatia, 1999. str. 58-61 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
