Pregled po CROSBI profilu: Tomislav Suligoj (CROSBI Profil: 15891, MBZ: 211535)
Pronađeno 249 radova
-
51.Krivec, Sabina; Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavThe Physical Mechanisms Behind the Strain-Induced Electron Mobility Increase in InGaAs-On-InP MOSFETs // IEEE transactions on electron devices, 65 (2018), 7; 2784-2789 doi:10.1109/TED.2018.2838681 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
52.Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, TomislavIndirect optical crosstalk reduction by highly- doped backside layer in single-photon avalanche diode arrays // Optical and Quantum Electronics, 50 (2018), 3; 152, 13 doi:10.1007/s11082-018-1415-2 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
53.Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavThe Potential of Phosphorene Nanoribbons as Channel Material for Ultra-Scaled Transistors // IEEE transactions on electron devices, 65 (2018), 1; 290-294 doi:10.1109/TED.2017.2771345 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
54.Knežević TihomirPhysical characteristics and applications of nanometer thin boron-on-silicon layers in silicon detector devices, 2017., doktorska disertacija, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
55.Tihomir Knežević; Lis K. Nanver; Tomislav SuligojTCAD-based Simulation Study of the 2D Dark Count Rate in InGaAs/InP Single Photon Avalanche Diodes Employing Standoff Breakdown Suppression Design // EMN Mauritius Meeting 2017 Program & Abstract
Port Louis, Mauricijus, 2017. str. 20-21 (pozvano predavanje, podatak o recenziji nije dostupan, prošireni sažetak, znanstveni) -
56.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Žilak, JosipInnovative Bipolar-CMOS Integration for RF Communication Circuits with Low-Cost High-Performance Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) // Proceedings of the 2017 IEEE 30th International Conference on Microelectronics
Niš, Srbija: IEEE Electron Devices Society, 2017. str. 19-26 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
57.Koričić, Marko; Žilak, Josip; Suligoj, TomislavImproving the Horizontal Current Bipolar Transistor Breakdown Voltage by Floating Field Plates // Proceedings of the 2017 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting
Miami (FL), Sjedinjene Američke Države, 2017. str. 130-133 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
58.Osrečki, Željko; Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav;Indirect optical crosstalk reduction by highly- doped backside layer in PureB single-photon avalanche diode arrays // Proceedings of the 17th International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD 2017) / Piprek, Joachim (ur.).
Kopenhagen, Danska: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2017. str. 69-70 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
59.Žilak, JosipCharacteristics of radio frequency integrated circuits and device reliability in horizontal current bipolar transistor technology, 2017., doktorska disertacija, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
60.Koričić, Marko; Žilak, Josip; Suligoj, TomislavImpact of the Local p-well Substrate Parameters on the Electrical Performance of the Double- Emitter Reduced-Surface-Field Horizontal Current Bipolar Transistor // Proceedings of the 40th International Convention MIPRO 2017 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka, 2017. str. 91-95 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
61.Koričić, Marko; Žilak Josip; Suligoj, TomislavA High-Voltage Single-Emitter Reduced-Surface-Field Horizontal Current Bipolar Transistor for BiCMOS Integration // IEEE transactions on electron devices, 64 (2017), 7; 3019-3022 doi:10.1109/TED.2017.2702189 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
62.Knežević, Tihomir; Lis K. Nanver; Suligoj, TomislavPerimeter effects from interfaces in ultra-thin layers deposited on nanometer-deep p+n silicon junctions // Proceedings of the 40th International Convention MIPRO 2017 / Petar Biljanović (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2017. str. 80-84 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
63.Žilak, Josip; Koričić, Marko; Suligoj, TomislavAnalysis of Hot Carrier-Induced Degradation of Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) // Proceedings of the 40th International Convention MIPRO 2017 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2017. str. 85-90 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
64.Krivec, Sabina; Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavStrain-induced increase of electron mobility in ultra-thin InGaAs-OI MOS transistors // Proceedings of the 3rd Joint EUROSOI-ULIS Conference 2017
Atena, Grčka, 2017. str. 136-139 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
65.Knežević, Tihomir; Nanver, Lis K.; Suligoj, TomislavSilicon Drift Detectors with the Drift Field Induced by PureB-Coated Trenches // Photonics (Basel), 3 (2016), 4; 54, 18 doi:10.3390/photonics3040054 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
66.Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavExamination of the InP/InGaAs single-photon avalanche diodes by establishing a new TCAD-based simulation environment // 2016 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) / Eberhard Bar, Jurgen Lorenz, Peter Pichler (ur.).
Nürnberg, 2016. str. 57-60 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
67.Koričić, Marko; Žilak, Josip; Suligoj, TomislavInvestigation of Double-Emitter Reduced-Surface-Field Horizontal Current Bipolar Transistor Breakdown Mechanisms // Proceedings of the 2016 Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting
New Brunswick (NJ), Sjedinjene Američke Države: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016. str. 25-28 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
68.Žilak, Josip; Koričić, Marko; Suligoj, Tomislav; Mochizuki, Hidenori; Morita, So-ichiA Low-Cost 180nm BiCMOS Technology with Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) for Wireless Communication ICs // European Microwave Week 2016 Conference Proceedings
London, Ujedinjeno Kraljevstvo: European Microwave Association, 2016. str. 373-376 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
69.Žilak, Josip; Koričić, Marko; Suligoj, TomislavReliability Degradation Mechanisms of Horizontal Current Bipolar Transistor // IEEE transactions on electron devices, 63 (2016), 11; 4409-4415 doi:10.1109/TED.2016.2611246 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
70.Koričić, Marko; Žilak, Josip; Mochizuki, Hidenori; Morita, So-ichi; Suligoj, TomislavFully-integrated Voltage Controlled Oscillator in Low-cost HCBT Technology // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
Opatija, Hrvatska: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2016. str. 45-50 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
71.Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavAnalysis of Electrical and Optical Characteristics of InP/InGaAs Avalanche Photodiodes in Linear Regime by a New Simulation Environment // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2016. str. 34-39 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
72.Berdalović, Ivan; Osrečki, Željko; Šegmanović, Filip; Grubišić, Dragan; Knežević, Tihomir; Suligoj, TomislavDesign of Passive-Quenching Active-Reset Circuit with Adjustable Hold-Off Time for Single-Photon Avalanche Diodes // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2016. str. 40-45 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
73.Žilak, Josip; Koričić, Marko; Mochizuki, Hidenori; Morita, So-ichi; Suligoj, TomislavImpact of the Emitter Polysilicon Thickness on the Performance of High-Linearity Mixers with Horizontal Current Bipolar Transistors // Proceedings of the 39th International Convention MIPRO 2016 / Biljanović, Petar (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2016. str. 40-44 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
74.Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavImmunity of electronic and transport properties of phosphorene nanoribbons to edge defects // Nano Research, 9 (2016), 6; 1723-1734 doi:10.1007/s12274-016-1066-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
75.Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavQuantum transport analysis of conductance variability in graphene nanoribbons with edge defects // IEEE transactions on electron devices, 63 (2016), 2; 537-543 doi:10.1109/TED.2015.2505003 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
