Pregled po CROSBI profilu: Milko Jakšić (CROSBI Profil: 11601, MBZ: 113630)
Pronađeno 368 radova
-
301.Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Bogdanović, Ivančica; Pastuović, ŽeljkoMeđudjelovanja brzih iona i tvari, te njihove primjene u karakterizaciji i modifikaciji materijala // Knjiga sažetaka
Zagreb: Hrvatsko filozofsko društvo, 1999. (poster, sažetak, znanstveni) -
302.Bošnjak, Željka MarijaUtjecaj kemijskog vezanja na omjer intenziteta Kbeta/Kalpha X-zračenja Cr i Mn za ionizaciju s protonima energije 3 MeV, 1999., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički, Zagreb
-
303.Vittone, E.; Fizzoti, F.; Gargioni, E.; Lu, R.; Polesello, P.; LoGiudice, A.; Manfredotti, C.; Galassini, S.; Jakšić, MilkoEvaluation of the diffusion length in silicon diodes by means of the lateral IBIC technique // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 476-480 doi:10.1016/S0168-583X(99)00383-3 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
304.Tadić, Tonči; Mokuno, Y.; Horino, Y.; Jakšić, Milko; Desnica-Franković, Dunja Ida; Trojko, RudolfHigh-energy resolution PIXE study of heat induced changes in cadmium compounds using ion microbeam // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 241-244 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
305.Polesello, P.; Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Lu, R.; Vittone, E.; Lerondel, G.; Rossi, A.M.; Amato, G.; Boarino, L.; Galassini, S. et al.Micromachining of silicon with a proton microbeam // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B : Beam interactions with materials and atoms (Print), 158 (1999), 1-4; 173-178 doi:10.1016/S0168-583X(99)00382-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
306.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; LoGiudice, A.; Polesello, P.; Vittone, E.; Lu, R.; Jakšić, MilkoIon microbeam analysis of CVD diamond // Diamond and related materials, 8 (1999), 8-9; 1597-1601 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
307.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Tadić, TončiNew developments in IBIC for the study of charge transport properties of radiation detector materials // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 158 (1999), 1-4; 458-463 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
308.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative analysis of a-Si_1-xC_x:H thin films // Applied surface science, 145 (1999), 188-191 doi:10.1016/S0169-4332(98)00795-8 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
309.Bogdanović, Ivančica; Tadić, Tonči; Jakšić, Milko; Halabuka, Z.; Trautmann, D.L-shell ionization of Cd, Sb, Te, Ba, La, Eu, Tb and Yb by ^16O ions in the energy range from 0.19 to 0.75 MeV u^-1 // Nuclear instruments & methods in physics research - section B : beam interactions with materials and atoms, 150 (1999), 1-4; 18-26 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
310.Krstić, Dragica; Fučić, Mario; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Tadić, Tonči.Application of the Nuclear Microprobe PIXE Analysis for the Determination of Inorganic Pigments: The Case of a Gothic Polychromed Portal in Zagreb // Matest 98:Produljenje vijeka trajanja / Krstelj, Vjera (ur.).
Zagreb: Hrvatsko društvo za kontrolu bez razaranja, 1998. str. 163-169 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
311.Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Orlić, Ivica; Osipowicz, T.; Vittone, E.; Manfredotti, C.Imaging of charge collection properties of CVD diamond using high-resolution ion beam induced charge technique with protons and alpha particles // Diamond films and technology, 8 (1998), 5; 391-398 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
312.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Yang, C.; Borjanović, Vesna; Praček, BorutQuantitative Analysis of a-Si1 x Cx:H Thin Films // Abstract Book / Phil Woodruff (ur.).
Birmingham, Ujedinjeno Kraljevstvo: IUVSTA, 1998. (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
313.Gracin, Davor; Jakšić, Milko; Borjanović, VesnaAnaliza slojeva silicij karbida infracrvenom spektroskopijom i RBS metodom // Zbornik sažetaka konferencije / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 1998. str. 16-16 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
314.Tadić, Tonči; Mokuno, Y.; Horino, Y.; Fujii, K.; Jakšić, MilkoEnergy straggling induced errors in heavy-ion PIXE analysis // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 179-183 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
315.Pastuović, Željko; Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Oliaiy, P.Deviations from Rutherford backscattering cross section for backscattering of 6^Li ions from fluorine between 2.5 and 7 MeV // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 81-85 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
316.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Polesello, P.; Vittone, E.; Truccato, M.; Lo Giudice, A.; Jakšić, Milko; Rossi, P.IBIC and IBIL microscopy applied to advanced semiconductor materials // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials & Atoms, 138 (1998), 1333-1339 doi::10.1016/S0168-583X(97)00829-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
317.Jakšić, Milko; Fazinić, Stjepko; Tadić, Tonči; Bogovac, Mladen; Bogdanović, Ivančica; Pastuović, ŽeljkoIBIC study of charge collection properties in Si(Li) detectors // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 138 (1998), 1327-1332 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
318.Radić, Nikola; Tonejc, Antun; Jakšić, Milko; Pastuović, ŽeljkoDisordered tungsten-carbon alloys produced by reactive magnetron sputtering // Extended Abstracts of JVC-7 / Bohatka, Sandor (ur.).
Deberecen: Lorand Eotvos Physical Society, 1997. str. 73-74 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
319.Kokanović, Ivan; Leontić, Boran; Lukatela, Jagoda; Dujmić, Denis; Jakšić, MilkoEvaluation effects of nanoscale inhomogeneities on the superconducting transition temperature in hydrogen-doped Zr-Co metallic glasses // Fizika A, 6 (1997), 33-44 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
320.Tadić, Tonči; Mokuno, Yoshiaki; Fujii, Kanenaga; Horino, Yuji; Brničević, Nevenka; Bašic, Ivan; Planinić, Pavica; Jakšić, MilkoApplication of chemical effects in X-ray spectra for characterization of the high-Tc superconductors // Applied superconductivity, 5 (1997), 1-6; 93-99 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
321.Tadić, Tonči; Mokuno, Y.; Horino, Y.; Jakšić, MilkoGeometrical aberrations in the von Hamos and the plane Bragg crystal spectrometers // International journal of PIXE, 7 (1997), 3, 4; 117-133 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
322.Beketić-Orešković, Lidija; Jakšić, Milko; Orešković, Slavko; Osmak, MajaHyperthermic modulation of resistance to cis-diammine-dichloroplatinum(II) in human larynx carcinoma cells // International journal of hyperthermia, 13 (1997), 2; 205-214 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
323.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Polesello, P.; Vittone, E.; Jakšić, Milko; Bogdanović, Ivančica; Valković, V.Scanning ion beam microscopy : a new tool for mapping the transport properties of semiconductors and insulators // Proceedings of Application of accelerators in research and industry / Duggan, J.L ; Morgan, I.L. (ur.).
Denton (TX), Sjedinjene Američke Države: AIP Press, 1997. str. 705-708 (poster, sažetak, znanstveni) -
324.Manfredotti, C.; Fizzotti, F.; Mirri, K.; Polesello, P.; Vittone, E.; Jakšić, Milko; Tadić, Tonči; Bogdanović, Ivančica; Pochet, T.A micro-IBIC comparison between natural and CVD diamond // Diamond and related materials, 6 (1997), 2-4; 320-324 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
325.Bogdanović, Ivančica; Fazinić, Stjepko; Jakšić, Milko; Šmit, Ž.L-shell ionization of selected medium-Z elements by 0.22-0.83 MeV u-1 carbon ions // Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 56 (1997), 4; 2860-2867 doi:10.1103/PhysRevA.56.2860 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
