Pregled po projektu: Sofisticirane poluvodičke strukture za komunikacijsku tehnologiju (MB: MZO-ZP-036-0982904-1642)
Pronađeno 133 radova
-
51.Nanver, Lis K.; Biasotto, Cleber; Jovanović, Vladimir; Moers, Juergen; Gruetzmacher, Detlev; Zhang, Jianjun; Bauer, Guenther; Schmidt, Oliver G.; Miglio, Leo; Kosina, Hans et al.SiGe dots as stressor material for strained Si devices // 5th International SiGe Technology and Device Meeting
Stockholm, Švedska, 2010. (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
52.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavPhysical mechanisms of electron mobility behavior in ultra-thin body double-gate MOSFETs with (100) and (111) active surfaces // Proceedings of the 46th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials (MIDEM) / Đonlagić, D. ; Šorli, I. ; Šorli, P. (ur.).
Ljubljana: BIRO M, 2010. str. 101-105 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
53.Šakić, Agata; Jovanović, Vladimir; Maleki, Parastoo; Scholtes, Tom L.M.; Milosavljević, Silvana; Nanver, Lis K.Characterization of amorphous boron layers as diffusion barrier for pure aluminium // Proceedings of the 33rd International Convention MIPRO - Vol I. MEET and GVS / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Zagreb: Denona, 2010. str. 26-29 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
54.Hrauda, Nina; Etzelstorfer, Tanja; Strangl, Julian; Carbone, Dina; Bauer, Guenther; Biasotto, Cleber; Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis; Moers, Juergen; Gruetzmacher, DetlevField-effect Transistor Devices Based on Strained Si Channels Above Buried 2D Periodic SiGe Quantum Dots // Material Research Society 2010 Spring Meeting
San Francisco (CA), Sjedinjene Američke Države, 2010. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
55.Jovanović, Vladimir; Biasotto, Cleber; Nanver, Lis K; Moers, Juergen; Gruetzmacher, Detlev; Gerharz Julian; Mussler, Gregor; van der Cingel, Johan; Zhang Jianjun; Bauer, Guenther et al.n-Channel MOSFETs Fabricated on SiGe Dots for Strain-Enhanced Mobility // IEEE electron device letters, 31 (2010), 10; 1083-1085 doi:10.1109/LED.2010.2058995 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
56.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavModeling study on carrier mobility in ultra-thin body FinFETs with circuit-level implications // Proceedings of the 40th European Solid-State Device Research Conference / Gamiz, Francisco ; Godoy, Andres (ur.).
Sevilla: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010. str. 242-245 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
57.Koričić, Marko; Suligoj, Tomislav; Mochizuki, Hidenori; Morita, So-ichi; Shinomura, Katsumi; Imai, HisayaDesign considerations for integration of Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) with 0.18 μm bulk CMOS technology // Solid-state electronics, 54 (2010), 10; 1166-1172 doi:10.1016/j.sse.2010.05.008 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
58.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Mochizuki, Hidenori; Morita, So-ichi; Shinomura, Katsumi; Imai, HisayaHorizontal Current Bipolar Transistor With a Single Polysilicon Region for Improved High-Frequency Performance of BiCMOS ICs // IEEE electron device letters, 31 (2010), 6; 534-536 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
59.Očko, Miroslav; Žonja, Sanja; Ivanda, MileThermoelectric materials: problems and perspectives // Proceedings of 33rd International Convention MIPRO 2010 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2010. str. 42-47 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
60.Jovanović, Vladimir; Suligoj, Tomislav; Poljak, Mirko; Civale, Yann; Nanver, Lis K.Ultra-high aspect-ratio FinFET technology // Solid-state electronics, 54 (2010), 9; 870-876 doi:10.1016/j.sse.2010.04.021 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
61.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavQuantum-Mechanical Modeling of Phonon-Limited Electron Mobility in Bulk MOSFETs, Ultrathin-Body SOI MOSFETs and Double-Gate MOSFETs for Different Orientations // Proceedings of the 33rd International Convention MIPRO - Vol I. MEET and GVS / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Zagreb: Denona, 2010. str. 74-79 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
62.Hrabar, Silvio; Krois, Igor; Kiricenko, Aleksandar; Bonic, IvanHomogenization of Active Transmission-line-based ENZ Metamaterials // Proceedings on IEEE APS 2010 Symposium / Ed (ur.).
Toronto: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010. str. 170-173 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
63.Hrabar, Silvio; Krois, Igor; Kiricenko, Aleksandar; Bonic, IvanNon-Foster Active Transmission Line with Nearly Dispersionless ENZ Behavior // META 10 2nd Interantional Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics, abstract book / Zouhdi, Said (ur.).
Pariz: University of Paris, 2010. str. 33-33 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
64.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavOrientation-Dependent Electron Mobility Behavior with Downscaling of Fin-Width in Double- and Triple-Gate SOI FinFETs // Proceedings of the 11th International Conference on Ultimate Integration on Silicon / S. Roy (ur.).
Glasgow, 2010. str. 21-24 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
65.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavAnalysis of Subthreshold Conduction in Short-Channel Recessed Source/Drain UTB SOI MOSFETs // Solid-state electronics, 54 (2010), 5; 545-551 doi::10.1016/j.sse.2010.01.009 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
66.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavSuppression of Corner Effects in Wide-Channel Triple-Gate Bulk FinFETs // Microelectronic Engineering, 87 (2010), 2; 192-199 doi:10.1016/j.mee.2009.07.013 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
67.Koričić, Marko; Suligoj, Tomislav; Mochizuki, H.; Morita, S.; Shinomura, K.; Imai, H.Design Considerations for Integration of Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) with 0.18 μm Bulk CMOS Technology // Proceedings of the International Semiconductor Device Research Symposium 2009 / Jones, Ken ; Dilli, Zeynep (ur.).
College Park (MD): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 1-2 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
68.Nanver, Lis K; Jovanović, Vladimir; Biasotto, Cleber; van der Cingel, Johan; Milosavljević, SilvanaApplication of Laser Annealing in the EU FP6 Project D-DotFET // Proceedings of 17th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors, RTP '09
Albany (NY), Sjedinjene Američke Države, 2009. str. 1-7 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
69.Očko, Miroslav; Zadro, Krešo; Drobac Djuro; Bermanec, Vladimir; Aviani, Ivica; Žonja, Sanja; Mixson, Dainiel; Bauer, Eric D; Sarrao, John LMagnetska svojstva CexLa1−xPt Kondo feromagneta // Knjiga sažetaka 6. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva
Zagreb, 2009. str. 145-145 (poster, sažetak, znanstveni) -
70.Žonja, Sanja; Očko, Miroslav; Ivanda, Mile; Biljanović, PeterProučavanje visoko dopiranih slojeva LPVCD polikristalnog silicija // Knjiga sažetaka 6. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva
Zagreb, 2009. str. 132-132 (poster, sažetak, znanstveni) -
71.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavOptimum Body Thickness of (111)-oriented Ultra-Thin Body Double-Gate MOSFETs with Respect to Quantum-Calculated Phonon-Limited Mobility // Proceedings of the International Semiconductor Device Research Symposium 2009 / Jones, Ken ; Dilli, Zeynep (ur.).
College Park (MD): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 1-2 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
72.Hrabar, Silvio; Krois, Igor; Matvijev, MarijanIs it Possible to Overcome Basic Dispersion Constraints and Achieve Broadband Cloaking? // Proceedings on THE THIRD INTERNATIONAL CONGRESS ON ADVANCED ELECTROMAGNETIC MATERIALS IN MICROWAVES AND OPTICS / Tretyakov, Sergei (ur.).
London : Delhi: Publications and Web Office for the School of Electronic Engineering and Computer Science, 2009. str. 408-410 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
73.Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Mochizuki, H.; Morita, S.; Shinomura, K.; Imai, H.Horizontal Current Bipolar Transistor (HCBT) for the Low-cost BiCMOS Technology // Proceedings of the 39th European Solid-State Device Research Conference / Tsoukalas, D. ; Dimoulas, A. (ur.).
Atena: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 359-362 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
74.Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis K.; Suligoj, Tomislav; Poljak, MirkoBulk-Si FinFET Technology for Ultra-High Aspect-Ratio Devices // Proceedings of the 39th European Solid-State Device Research Conference / Tsoukalas, D. ; Dimoulas, A. (ur.).
Atena: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 241-244 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
75.Jovanović, Vladimir; Poljak, Mirko; Suligoj, TomislavFinFET Considerations for 0.18 um Technology // Proceedings of 45th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials MIDEM 2009 / Topič M. ; Krč, J. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials, 2009. str. 91-96 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
76.Biasotto, Cleber; Gonda, Viktor; Nanver, Lis K.; van der Cingel, Johan; Jovanović, VladimirLaser Annealing of Self-Aligned As+ Implants in Contact Windows for Ultrashallow Junction Formation // Electrochemical Society Transactions / De Lima Monteiro, D. ; Bonnaud, O. ; Morimoto, N. (ur.).
Natal, Brazil: The Electrochemical Society (ECS), 2009. str. 19-27 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
77.Hrauda, Nina; Zhang, Jianjun; Stangl, J.; Rehman-Khan, A.; Bauer, Guenther; Stoffel, Mathieu; Schmidt, Oliver G.; Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis K.X-ray investigation of buried SiGe islands for devices with strain-enhanced mobility // Journal of Vacuum Science and Technology B - Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement and Phenomena, 27 (2009), 2; 912-918 doi:10.1116/1.3056178 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
78.Hrauda, Nina; Zhang, Jianjun; Stoffel, Mathieu; Stangl, J.; Bauer, Guenther; Rehman-Khan, A.; Holy, V.; Schmidt, Oliver G.; Jovanović, Vladimir; Nanver, Lis K.X-ray diffraction study of the composition and strain fields in buried SiGe islands // The European physical journal. Special topics, 167 (2009), 1; 41-46 doi:10.1140/epjst/e2009-00934-7 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
79.Jovanović, Vladimir; Poljak, Mirko; Suligoj, Tomislav; Civale, Yann; Nanver, Lis K.1.9 nm Wide Ultra-High Aspect-Ratio Bulk-Si FinFETs // Device Research Conference - Conference Digest / Koester, S. ; Gundlach, D. ; Fay, P. (ur.).
State College (PA), Sjedinjene Američke Države: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 261-262 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
80.Lučev, Željka; Krois, Igor; Cifrek, Mario; Džapo, Hrvoje; Tonković, StankoEffects of Transmitter Position and Receiver Ground Plane on Signal Transmission in Intrabody Wireless EMG Measurement System // Proceedings of the 11th World Congress on Medical Physics and Biomedical Engineering, vol. 25/7 / Dossel and Schlegel (ur.).
München: Springer, 2009. str. 887-890 doi:10.1007/978-3-642-03885-3_246 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
81.Lučev, Željka; Krois, Igor; Cifrek, MarioA multichannel wireless EMG measurement system based on intrabody communication // XIX IMEKO World Congress, Fundamental and Applied Metrology / Girao, Pedro S. (ur.).
Lisabon: IMEKO, 2009. str. 1711-1715 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
82.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavSuppression of Corner Effects in Triple-Gate Bulk FinFETs // Proceedings of the International IEEE Conference EUROCON 2009 / Mironenko, I. ; Mikerov, A. (ur.).
Sankt Peterburg: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009. str. 1-6 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
83.Biasotto, Cleber; Jovanović, Vladimir; Gonda, Viktor; van der Cingel, Johan; Milosavljević, Silvana; Nanver, Lis K.Integration of Laser-Annealed Junctions in a Low- Temperature High-k Metal-Gate MISFET // Proceedings of the 10th International Conference on ULtimate Integration of Silicon / Mantl, S. ; Lemme, M. ; Schubert, J. ; Albrecht, W. (ur.).
Aachen, Njemačka, 2009. str. 181-184 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
84.Blečić, Raul; Ivanković, Andrej; Divković Pukšec, JulijanaKernighan-Lin algorithm for n-way circuit partitioning // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 186-190 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
85.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavQuantum Confinement and Scaling Effects in Ultra-Thin Body Double-Gate FinFETs // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 95-100 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
86.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavCompact Capacitance Model for Drain-Induced Barrier-Lowering of Vertical SONFET // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 85-88 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
87.Žonja, Sanja; Ivanda, Mile; Očko, M.; Biljanović, Petar; Suligoj, Tomislav; Koričić, Marko; Mochizuki, H.; Morita, S.; Shinomura, K.; Imai, H.Electrical activation of phosphorus by rapid thermal annealing of doped amorphous silicon films // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 46-51 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
88.Vilman, Viktor; Ristić, Davor; Ivanda, Mile; Biljanović, Petar; Gamulin, Ozren; Furić, Krešimir; Ristić, Mira; Musić, SvetozarLow pressure chemical vapor deposition of thin SiOx films in oxygen and nitrogen atmospheres // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 41-45 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
89.Armellini, C.; Bhaktha, S.N.B.; Beclin, F.; Berneschi, S.; Biljanović, Petar; Bouazaoui, M.; Boulard, B.; Capoen, B.; Chiappini, A.; Chiasera, A. et al.Rare-earth-activated nano-structures fabricated by sol-gel route // Proceedings of 32nd International Convention MIPRO 2009 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2009. str. 27-32 (pozvano predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
90.Očko, Miroslav; Žonja, Sanja; Stubičar, Mirko; Stubičar, Nada; Bauer, Eric D.; Sarrao, John L.Why YbxLu1-xAl3 and YbxY1-xInCu4 have quite opposite concentration dependence of the Vickers microhardness? // Solid State Communications, 149 (2009), 33-34; 1313-1316 doi:10.1016/j.ssc.2009.05.037 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
91.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavAnalytical Models of Front- and Back-Gate Potential Distribution and Threshold Voltage for Recessed Source/Drain UTB SOI MOSFETs // Solid-state electronics, 53 (2009), 5; 540-547 doi:10.1016/j.sse.2009.03.002 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
92.Poljak, Mirko; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavImproving bulk FinFET DC performance in comparison to SOI FinFET // Microelectronic engineering, 86 (2009), 10; 2078-2085 doi:10.1016/j.mee.2009.01.066 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
93.Koričić, MarkoHorizontal Current Bipolar Transistor Structures for Integration with CMOS Technology, 2008., doktorska disertacija, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
94.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical silicon-on-nothing FET: Threshold voltage calculation using compact capacitance model // Solid-State Electronics, 52 (2008), 10; 1505-1511 doi:10.1016/j.sse.2008.06.013 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
95.Žonja, Sanja; Očko, Miroslav; Ivanda, Mile; Biljanović, PetarThermoelectric properties of the LPCVD obtained Si:B thin films // ARW Workshop on Properties and Applications of Thermoelectric Materials and Conference on Concepts in Electron Correlation
Hvar, Hrvatska, 2008. (poster, sažetak, znanstveni) -
96.Očko, Miroslav; Žonja, Sanja; Yu, LeiTransport Properties of the TaxN thin films // ARW Workshop on Properties and Applications of Thermoelectric Materials & Conference on Concepts in Electron Correlation
Hvar, Hrvatska, 2008. (poster, sažetak, znanstveni) -
97.Očko, Miroslav; Žonja, Sanja; Bauer, Eric D.; Sarrao, John L.On the energy scales of YbAl3 from the thermopower data: the role of coherence on thermopower // ARW Workshop on Properties and Applications of Thermoelectric Materials and Conference on Concepts in Electron Correlation
Hvar, Hrvatska, 2008. (poster, sažetak, znanstveni) -
98.Sviličić, Boris; Jovanović, Vladimir; Suligoj, TomislavVertical Silicon-on-Nothing FET: Subthreshold Slope Calculation Using Compact Capacitance Model // Informacije MIDEM Journal of Microelectronics, Electronic Components and Materials, 38 (2008), 1; 1-4 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
99.Hrabar, Silvio; Krois, Igor; Ivšić, Branimir; Zaluški, Davor; Pavlaković, GoranActive Dispersionless ‘ Plasmonic’ Metamaterial - a Step Towards Broadband Cloaking // Proceedings of the 2008 IEEE AP-S International Symposium and USNC/URSI National Radio Science Meeting
San Diego (CA), 2008. str. 203-203 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
100.Sviličić, BorisModeliranje i optimizacija vertikalnog potpuno osiromašenog MOSFET-a u tehnologiji Silicija ni na čemu, 2008., doktorska disertacija, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
