Pregled po CROSBI profilu: Branko Pivac (CROSBI Profil: 19833, MBZ: 67912)
Pronađeno 231 radova
-
151.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H PhotodiodeTransient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
152.Kovačević, Ivana; Pivac, Branko; Markevich, Vladimir; Peaker, TonyNeutron irradiation studies, a preliminary look for Si interstitials // Book of abstracts / Peaker, A.R. (ur.).
Manchester: UMIST, 2002. str. 23-23 (predavanje, neobjavljeni rad, znanstveni) -
153.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanStudy of the Color Detection of a-Si:H by Transient Response in the Visible Range // IEEE Transactions on Electron Devices, 49 (2002), 4; 550-556 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
154.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe Fourier Analysis of a-Si:H Photodiode Transient Response // IEEE Melecon 2002 Proceedings
Kairo: IEEE: The Institute of Electrical and Electronics, Inc., 2002. str. 45-48 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
155.Pivac, Branko; Ilić, Saša; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.Gap states produced by oxygen precipitation in czochralski silicon // Final Programme and Book of Abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
156.Kovačević, Ivana; Borjanović, Vesna; Pivac, BrankoInterstitial defects in ion-implanted Si // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 77-77 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
157.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Katz, EugeneIBIC studies of structural defect activity in different polycrystalline silicon material // Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, 2002. str. 42-42 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
158.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Zulim, Ivan; Vlahović, BranislavIBICC studies of polycrystalline silicon // Preliminary Program
New Orleans (LA): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2002. str. 1P25-1P25 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
159.Grozdanić, Danijela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon // Zbornik radova / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. (poster, sažetak, znanstveni) -
160.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaImplantacija C+ u Si // Zbornik sažetaka / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb, 2002. str. 22-22 (poster, sažetak, znanstveni) -
161.Pivac, Branko; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Etlinger, Božidar; Zulim, IvanLight induced defects in amorhous silicon thin films // JVC-9 9th Joint Vacuum Conference Final programme and book of abstracts / Leisch, M. ; Winkler, A. (ur.).
Graz: HTU GmbH, Graz University of Technology, 2002. str. 79-79 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
162.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, Rita; Corni, Federico; Ottaviani, GianpieroGrazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
163.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Corni, Federico; Tonini, Rita; Ottaviani, GianpieroGISAXS study of defects in deuterium implanted monocrystalline silicon // SAS 2002 XII International Conference on Small-Angle Scattering, Conference Book / Carsughi Flavio; Spinozzi, Francesco (ur.).
Venecija, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
164.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Bernstorff, Sigrid; Borghesi, A.; Sassella, A.; Porrini, M.SAXS study of oxygen precipitation in silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
165.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R. Corni, F.; Ottaviani, GGISAXS study of hydrogen implanted silicon // SYMPOSIUM I Synchrotron Radiation and Materials Science / Amenitsch, Heinz (ur.).
Strasbourg: E-MRS, 2002. (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
166.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Bernstorff, Sigrid; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Grazing incidence small angle x-ray scattering study of irradiation induced defects in monocrystalline silicon, 2002. (podatak o recenziji nije dostupan, izvještaj).
-
167.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R; Corni, F; Ottaviani, GReply to comments on 'EPR study of He-implanted Si' by P. Pivac, B. Rakvin, R. Tonini, F. Corni, G. Ottaizani, Published in Mater. Sci. Eng. B73 (2000) 60-63 - Written by M. Kakazey, M. Vlasova, and J.G. Gonzalez-Rodriguez - Reply to discussio // Materials Science & Engineering B-Solid State Materials for Advanced Technology, 90 (2002), 1-2; 211-212 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
168.Pivac, Branko; Desnica, Uroš; Desnica-Franović, Ida-Dunja; Etlinger, Božidar; Dubček, Pavo; Pavlović, Mladen; Kovačević, Ivana; Buljan, MajaUtjecaj defekata i nanostruktura na svojstva poluvodiča // Znanstveno-stručni skup Nanomreža
Zagreb, Hrvatska, 2002. (predavanje, neobjavljeni rad, ostalo) -
169.Mikšić, VesnaDefekti u siliciju nastali implantacijom vodika, 2002., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
170.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 183-189 doi:10.1016/S0927-0248(01)00163-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
171.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Evtody, B.N.; Katz, E.Comparative studies of EFG ribbon poly-Si grown by different procedures // Solar energy materials and solar cells, 72 (2002), 1-4; 165-171 doi:10.1016/S0927-0248(01)00161-1 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
172.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, IvanDefects introduced in amorphous silicon thin films by light soaking // Thin solid films, 403-404 (2002), 513-516 doi:10.1016/S0040-6090(01)01649-2 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
173.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaDefects in carbon and oxygen implanted p-type silicon // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B, 186 (2002), 355-359 doi:10.1016/S0168-583X(01)00917-X (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
174.Mikšić, Vesna; Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Zorc, Hrvoje; Corni, F.; Tonini, R.; Ottaviani, G.DLTS and EPR study of defects in H implanted silicon // Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 186 (2002), 1/4; 36-40 doi:10.1016/S0168-583X(01)00919-3 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
175.Borjanović, Vesna; Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Vlahović, Branislav; Dutta, J.; Ječmenica, RadeDefects in polycristalline silicon studied by IBICC // Solar Energy Materials and Solar Cells, 72 (2002), 1-4; 487-494 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
176.Dubček, Pavo; Pivac, Branko; Milat, Ognjen; Bernstorff, Sigrid; Zulim, IvanX-Ray Reflectivity and GISAXS Study of Derelaxation in Kr Implanted Si // Application of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science VI / Allen, P.G. ; Mini, S.M. ; Perry, D.L. ; Stock, S.R. (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. EE6.4.1-EE6.4.6 -
177.Radić, Nikola; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoIspitivanje tankih slojeva volfram-ugljik slitina metodom Ramanske spektroskopije // Knjiga sažetaka Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva / Jakšić, Milko ; Kokanović, Ivan ; Milošević, Slobodan (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društva, 2001. str. 131-131 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni) -
178.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman study of a-WC thin films // E-MRS 2001 Spring Meeting Book of Abstracts / Glasow, P. ; Priolo, F. (ur.).
Strasbourg: European Materials Research Society, 2001. str. C-34 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
179.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Biljanović, Petar; Pivac, Branko; Zulim, IvanCapacitance Behaviour of np Crystalline Silicon and n-i-p Amorphous-silicon Photodiode for Color Detection // MIPRO 2001, 24th International Convention : Proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2001. str. 11-13 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
180.Jakšić, Milko; Borjanović, Vesna; Pastuović, Željko; Bogdanović Radović, Ivančica; Skukan, Natko; Pivac, BrankoIBICC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B-Beam Interactions with Materials and Atoms, 181 (2001), 298-304 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
181.Sassella, A.; Borghesi, A.; Pivac, Branko; Porrini, M.Evaluation of the precipitate contribution to the infrared absortion of interstitial oxygen measurements in silicon // Applied Physics Letters, 79 (2001), 4106-4108 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
182.Pivac, Branko; Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Zulim, IvanStructural changes in amorphous silicon annealed at low temperatures // Amorphous and Heterogeneous Silicon-Based Films - 2001 / Stutzmann, M. ; Boyce, J.B. ; Cohen, J.D. ; Collins, R.W. ; Hanna, J (ur.).
Warrendale (PA): Materials Research Society, 2001. str. A19.9.1-A19.9.6 -
183.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Borjanović, VesnaPoint defects in carbon rich poly-Si // Polycrystalline Semiconductors IV - Bulk Materials, Thin Films, and Devices / Bonnaud, O. ; Mohammed-Brahim, T. ; Strunk, H.P. ; Werner, J.H. (ur.).
Uetikon: Scitech Publications, 2001. str. 115-120 -
184.Grozdanić, Daniela; Milat, O.; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Grain boundary defects in RTCVD polycrystalline silicon for solar cells // Vacuum, 61 (2001), 2-4; 257-262 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
185.Borjanović, VesnaInterakcija laganih i nedopirajućih primjesa sa strukturnim defektima u siliciju, 2001., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
186.Kovačević, IvanaUtjecaj strukturnih defekata na komplekse kisika i ugljika u siliciju, 2001., diplomski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
187.Pivac, Branko; Borjanović, V.; Kovačević, I.; Zulim, IvanDeep Level Defects in Oxygen Doped EFG Poly-Si // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 276-279 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
188.Pivac, Branko; Kovačević, Ivana; Zulim, Ivan; Gradišnik, VeraEffects Of Light Soaking On Amorphous Silicon // Conference Record Of The 28th IEEE Photovoltaic Specialists Conference / Rohatgi, Ajeet (ur.).
Piscataway (NJ): Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000. str. 884-887 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
189.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoTHE MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED TUNGSTEN-CARBON THIN FILMS // Physik-Event OPG 2000 / Lippitsch, Max (ur.).
Graz: Oesterreichische Physikalische Gesellschaft, 2000. str. 179-179 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
190.Radić, Nikola; Seidler, Sabine; Koch, Thomas; Jakšić, Milko; Tonejc, Antun; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Meinardi, FrancoSTRUCTURE AND MECHANICAL PROPERTIES OF DISORDERED W-C ALLOYS // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 30-30 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
191.Pivac, Branko; Radić, Nikola; Meinardi, FrancoRaman scattering from sputter deposited a-WC thin films // Final Programme and Book of Abstracts / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 20-20 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
192.Borjanović, Vesna; Kovačević, Ivana; Zorc, Hrvoje; Pivac, BrankoIrradiation effects on polycrystalline silicon // 8th joint vacuum conference of Croatia, Austria, Slovenia and Hungary / Milun, Milorad ; Zorc, Hrvoje (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2000. str. 50-50 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni) -
193.Jakšić, Milko; Pastuović, Željko; Pivac, Branko; Borjanović, VesnaIBIC characterisation of defect structures in polycrystalline silicon // 7th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications, Final Program and Abstracts
Bordeaux: ICNMTA 2000, 2000. str. 33-33 (predavanje, sažetak, znanstveni) -
194.Grozdanić, DanijelaIstraživanje defekata u nanokristaliničnom siliciju elektronskom paramagnetskom rezonancijom, 2000., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
-
195.Gradišnik, Vera; Pavlović, Mladen; Pivac, Branko; Zulim, IvanThe transient behaviour and charge analysis of np silicon colour detector // Proceedings of 36th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials / Hrovat, M. ; Kosec, M. ; Šorli, I. (ur.).
Ljubljana: MIDEM, 2000. str. 241-246 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
196.Grozdanić, Daniela; Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Slaoui, A.; Monna, R.Electron paramagnetic resonance study of defects in rapid thermal chemical vapor deposition polycrystalline silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 69 (2000), Special issue; 549-552 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
197.Rakvin, Boris; Pivac, Branko; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.Electron paramagnetic resonance study of S2 defects in hydrogen-implanted silicon // Nuclear instruments and methods in physics research B, 170 (2000), 1-2; 125-133 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
198.Pivac, Branko; Borjanović, Vesna; Kovačević, IvanaIntrinsic point defects in polycrystalline silicon // Fizika A, 9 (2000), 1; 37-46 (podatak o recenziji nije dostupan, članak, znanstveni)
-
199.Pivac, Branko; Rakvin, Boris; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.EPR study of He implanted Si // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 73 (2000), 1-2; 60-63 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
200.Dubček, Pavo; Milat, Ognjen; Pivac, Branko; Bernstorff, S.; Amenitsch, H.; Tonini, R.; Corni, F.; Ottaviani, G.GISAXS study of defects in He implanted silicon // Materials science and engineering B : solid state materials for advanced technology, 71 (2000), Special issue SI; 82-86 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
