Pregled po CROSBI profilu: Adrijan Barić (CROSBI Profil: 12357, MBZ: 136444)
Pronađeno 270 radova
-
251.Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems - ICECS 2002 / Barić, Adrijan ; Magjarević, Ratko ; Pejčinović, Branimir ; Chrzanowska-Jeske, Malgorzata (ur.). Zagreb: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2002 (zbornik)
-
252.Marić, Nikica; Šamšalović, Marko; Barić, AdrijanSine-to-Pulse Input Conversion Cells for GaAs SCFL Digital Test Structures // Proceedings of MIPRO 2002 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2002. str. 29-31 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
253.Marković, Hrvoje; Čeperić, Vladimir; Barić, AdrijanTime Delay Extraction from Spectral Measurements of High-Speed Digital Cells // 25th International Convention (MIPRO 2002) : proceedings / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Croatian Society for Microprocessor Systems, Process Control and Information Systems, Microelectronics and Electronics, 2002. str. 25-28 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
254.Šamšalović, Marko; Marković, Hrvoje; Marić, Nikica; Butković, Željko; Barić, AdrijanOptimization of a GaAs SCFL Buffer Cell // Proceedings of MIPRO 2002 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Croatian Society MIPRO, 2002. str. 21-24 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
255.Bajić, MarkoVerifikacija metode za ekstrakciju induktiviteta u prospojnim mrežama mikroprocesora, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
256.Vešligaj, DavorStrukture podataka i algoritmi za ekstrakciju induktiviteta u prospojnim mrežama mikroprocesora, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
257.Kovač, MilivojProračun parcijalnih induktiviteta u prospojnim mrežama mikroprocesora, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
258.Šamšalović, MarkoProjektiranje i optimiranje standardnih ćelija u galij-arsenidskoj tehnologiji, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
259.Marić, NikicaProjektiranje i optimiranje standardnih ćelija u galij-arsenidskoj tehnologiji - prstenasti oscilator, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
260.Marković, HrvojeProjektiranje i optimiranje standardnih ćelija u galij-arsenidskoj tehnologiji - bistabili, 2002., diplomski rad, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
-
261.Marković, Hrvoje; Marić, Nikica; Čeperić, Vladimir; Barić, AdrijanHigh-Speed GaAs SCFL Digital Test Structures // The 9th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS 2002) : Proceedings / Barić, Adrijan ; Magjarević, R. ; Pejčinović, B. ; Chrzanowska-Jeske, M. (ur.).
Piscataway (NJ): The Institut of Electrical and Electronic Engineers, 2002. str. 635-639 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
262.Barić, Adrijan; Butković, ŽeljkoSimulation of large-signal behavior of a GaAs low noise amplifier // Proceedings of the 10th Mediterranean Electrotechnical Conference MELECON 2000 / Economides, Costas ; Pattichis, Constantinos S. ; Maliotis, Greg (ur.).
Nikozija: Violaris Press Ltd, 2000. str. 193-196 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
263.Matijević, Miroslav; Koričić, Marko; Jovanović, Vladimir; Barić, AdrijanReverse Engineering of a Gallium Arsenide Integrated Circuit // Proceedings of MIPRO '99 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: MIPRO, Croatia, 1999. str. 66-69 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
264.Barić, Adrijan; McNally, PatrickA simple One-Dimensional Model for the Explanation and Analysis of GaAs MESFET Behavior // IEEE Transactions on education, 41 (1998), 3; 219-223 doi:10.1109/13.704550 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
265.Butković, Željko; Barić, AdrijanEnergy Balance Simulation of Submicromter Si n-MOSFETs // Proceedings of MELECON ´98, Vol. I / Baal-Schem, Jacob (ur.).
Tel Aviv: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1998. str. 354-357 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
266.Barić, Adrijan; Butković, ŽeljkoInfluence of Hot Carriers on the Output Characteristics of Submicrometer MOSFETs // Proceedings of MIPRO "97 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: MIPRO, Croatia, 1997. str. 13-16 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
267.McNally, Patrick J.; Tuomi, T.; Herbert, P.A.F.; Barić, Adrijan; Ayras, A.; Karilahti, M.; Lipsanen, H.; Tromby, M.Synchrotron X-Ray Topographic Analysis of the Impact of Processing Steps on the Fabrication of AlGaAs/InGaAs p-HEMT's // IEEE transactions on electron devices, 43 (1996), 6; 1085-1091 doi:10.1109/16.502419 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
268.Barić, Adrijan; McNally, Patrick J.GaAs electron mobility models // Proc. Symp. Microelectronics, Electronics and Electronic Technologies (MEET) '95, MIPRO / Biljanović, Petar (ur.).
Opatija: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 1995. str. 2.74-2.79 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni) -
269.McNally, Patrick J.; McCaffrey, J.; Barić, AdrijanPiezoelectrically active defects and their impact on the performance of GaAs MESFETs // Journal of materials processing technology, 55 (1995), 3/4; 303-310 doi:10.1016/0924-0136(95)02022-5 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
-
270.Barić, Adrijan; McNally, Patrick J.; McCaffrey, J.K.Modelling the effects of piezoelectrically active defects and their impact on the threshold voltage of GaAs metal-semiconductor field effect transistors // International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies EXMATEC '94, Materials Science and Engineering vol. 28 / Fornari, Roberto (ur.).
Parma, Italija, 1994. str. 248-252 doi:10.1016/0921-5107(94)90057-4 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
