Naslov
Istraživanje elektroredukcije površinskih oksidnih slojeva na bakru i kositru
(Investigations of electroreduction of surface oxide layers on copper and tin)

Autori
Jukić, Ante

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad

Fakultet
Fakultet kemijskog inženjerstva i tehnologije

Mjesto
Zagreb

Datum
28.11

Godina
1997

Stranica
67

Mentor
Metikoš-Huković, M.

Ključne riječi
bakar; kositar; oksidni filmovi; elektroredukcija; poluvodiči; lemljivost; ciklička voltametrija; kronopotenciometrija
(copper; tin; oxide films; electroreduction; semiconductors; solderability; cyclic voltammetry; chronopotentiometry)

Sažetak
Istraživanje mehanizma formiranja i katodičke dekompozicije oksidnih filmova na bakru i kositru, metalima koji nalaze široku primjenu u elektroničkoj industriji. Spontano formirani oksidni filmovi podebljavani su anodnom polarizacijom u Na-boratnom puferu pH = 8.4, tj. uvjetima njihove najveće termodinamičke stabilnosti. Na površinama oba metala stvaraju se poluvodički oksidni filmovi, dupleks strukture, koji sprečavaju spajanje metala u procesu lemljenja. Pokazano je da vanjski, nestehiometrijski, hidratizirani film Cu(II)oksida, sastava CuO_x(OH)_2-2x (x = 0 - 1) raste na već formiranom Cu_2O filmu. Unutrašnji film na kositru je sastava SnO_2, a vanjski hidratizirani Sn(IV)-oksid, pod utjecajem polarizacije, vremena i temperature prelazi u termodinamički stabilniju formu SnO_2. Međutim, oksidni filmovi formirani na bakru i kositru mogu se elektrokemijskim putem reducirati do metala. Redukcija se odvija u čvrstoj fazi, tj. prema čvrstofaznom mehanizmu, karakterističnom za poluvodičke materijale s polarnom vezom i širokom zabranjenom zonom, a njen jedini produkt je voda. Utvrđeno je da kronopotenciometrijska stupnjevita redukcijska analiza predstavlja nedestruktivnu, aparativno nezahtjevnu, ekološki čistu metodu za procjenu kvalitete lemljivosti elektroničkih elemenata na vodljive ploče.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Kemija

POVEZANOST RADA