Pregled bibliografske jedinice broj: 895936
Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora
Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora // 24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique, Book of abstracts / Buljan, Maja ; Karlušić, Marko (ur.).
Zagreb: Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2017. str. 20-20 (poster, nije recenziran, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 895936 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Usporedba transportnih svojstava Si i 4H-SiC detektora
(Transport properties comparison of Si and 4H-SiC detectors)
Autori
Blažeka, Damjan ; Brodar, Tomislav ; Capan, Ivana ; Ohshima, Takeshi ; Sato, Shin-ichiro ; Makino, Takahiro ; Snoj, Luka ; Radulović, Vladimir ;
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique, Book of abstracts
/ Buljan, Maja ; Karlušić, Marko - Zagreb : Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2017, 20-20
ISBN
978-953-7941-17-8
Skup
24th International Scientific Meeting on Vacuum Science and Technique
Mjesto i datum
Zadar, Hrvatska, 18.05.2017. - 19.05.2017
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Nije recenziran
Ključne riječi
poluvodiči ; detektori ; neutronsko zračenje ; silicij-karbid ;
(semiconductors ; detectors ; neutron-irradiation ; silicon-carbide ;)
Sažetak
Silicij-karbid (SiC) je poluvodički materijal koji se intenzivno istražuje jer može podnijeti uvjete u kojima prevladavaju visoki iznosi temperature, električne snage, frekvencije i zračenja. Posebnu primjenu našao je u izradi poluvodičkih detektora. U ovom radu usporedili smo transportna svojstva SBD (Schottky barrier diode) detektora od silicija (Si) i 4H-SiC, koji imaju podjednaku dopiranost (n-tip, 10^14 cm-3). Korištena su temperaturno ovisna kapacitivno-naponska (C-V) i strujno-naponska (I-V) mjerenja na temperaturama od 100K do 380K. Pokazali smo da u gotovo svim svojstvima važnim za detektore SiC ima bolje karakteristike u odnosu na Si. Struja curenja, koja određuje minimalnu amplitudu signala u poluvodičkim detektorima, kod SiC je više od deset redova veličine manja nego kod Si. Promjena koncentracije slobodnih nosilaca naboja s temperaturom kod SiC je manja, što znači veću stabilnost i preciznost detektora. Povećanje faktora idealnosti sa spuštanjem temperature kod SiC je puno manje izraženo nego kod Si, i znak je da je zanemariva struja rekombinacije u području osiromašenja. To pokazuje da je mala koncentracija rekombinacijsko – generacijskih centara, što je posljedica izvrsne izrade analiziranog SiC uzorka, a omogućava dobru rezoluciju detektora. Detektor od SiC podvrgnuli smo neutronskom zračenju u TRIGA reaktoru na Institutu Jožef Štefan i zaključili da su transportna svojstva pokazala dobru otpornost s obzirom na primijenjene doze.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb