Pregled bibliografske jedinice broj: 81991
Kvantitativna analiza dubokih zamki u visokootpornim poluvodičima
Kvantitativna analiza dubokih zamki u visokootpornim poluvodičima // Zbornik sažetaka 5. susreta vakuumista Hrvatske i Slovenije / Radić, Nikola (ur.).
Zagreb: Institut Ruđer Bošković, 1998. str. 7-7 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 81991 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Kvantitativna analiza dubokih zamki u visokootpornim poluvodičima
(Quantitative analysis of deep traps in semi-insulating semiconductors)
Autori
Pavlović, Mladen ; Desnica, Uroš Vladan
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Zbornik sažetaka 5. susreta vakuumista Hrvatske i Slovenije
/ Radić, Nikola - Zagreb : Institut Ruđer Bošković, 1998, 7-7
Skup
5. susret vakuumista Hrvatske i Slovenije
Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 20.05.1998
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
Duboki nivoi; visokootporni poluvodiči
(deep levels; semi-insulating semiconductors)
Sažetak
Razvijena je nova metoda kvantitativne analize dubokih zamki u visokootpornim poluvodičima SIMPA ("Simultaneous Multiple Peak Analysis), koja omogućuje prilagođavanje (fitting) cijelog izmjerenog spektra termički stimuliranih struja (TSC).
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
