Pregled bibliografske jedinice broj: 81734
Defekti u siliciju nastali implantacijom vodika
Defekti u siliciju nastali implantacijom vodika, 2002., magistarski rad, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
CROSBI ID: 81734 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Defekti u siliciju nastali implantacijom vodika
(Defects in hydrogen implanted silicon)
Autori
Mikšić, Vesna
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, magistarski rad
Fakultet
Prirodoslovno-matematički fakultet
Mjesto
Zagreb
Datum
05.03
Godina
2002
Stranica
88
Mentor
Pivac, Branko; Ogorelec, Zvonko
Ključne riječi
defekti; implantacija; monokristal silicija; vodik; strukturni defekti; DLTS; termički tretman
(defects; implantation; single-crystal silicon; hydrogen; structural defects; DLTS; thermal treatment)
Sažetak
Sveobuhvatno razumijevanje ponašanja defekata, uzrokovanih implantacijom i zagrijavanjem, predstavlja veliki znanstveni izazov, jer zahtijeva određivanje složenih pojava kao što je međudjelovanje defekata s nečistoćama. Cilj ovog istraživanja bio je dobivanje važnih spoznaja o strukturnim defektima nastalih implantacijom vodika u monokristal silicija, te dinamici nastajanja i nestajanja defekata uslijed termičkog tretmana. Vodik je vrlo pokretljiv i reaktivan, te već u prvoj fazi implantacije međudjeluje s nastalim strukturnim defektima i formira nove, složene strukture. Implantacija vodika je vršena ionskim snopom energije 15.5 keV. Utjecaj termičkog tretmana na strukturne defekte proučavan je u širokom temperaturnom području (100°C-900°C). Nastale promjene istraživane su električnim metodama (posebno DLTS). Rezultati ovih istraživanja upućuju na značajan utjecaj vodika na transformacije strukturnih defekata nastalih implantacijom.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika