Naslov
Sustav za temperaturno testiranje integriranih sklopova izveden na čipu
(System for temperature testing of integrated circuits designed on chip)

Autori
Bačmaga, Josip

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad, preddiplomski

Fakultet
Fakultet elektrotehnike i računarstva

Mjesto
Zagreb

Datum
12.07

Godina
2010

Stranica
37

Mentor
Barić, Adrijan

Ključne riječi
integrirani sklopovi; temperaturno ispitivanje
(integrated circuits; temperature characterization)

Sažetak
U ovom radu predstavljen je složen sustav koji omogućuje ispitivanje temperaturnih karakteristika integriranih sklopova izvedenih na silicijskom čipu. Opisan je princip testiranja utjecaja temperature na integrirane sklopove, te su predstavljeni sklopovi koji omogućuju testiranje, postupak projektiranja tih sklopova te njihovi topološki nacrti. Prikazan je rad dvaju odvojenih sustava – sustava za zagrijavanje čipa i sustava za mjerenje temperature. Digitalni logički sklopovi za upravljanje grijačima i mjerenjem temperature na čipu omogućuju preciznu kontrolu zagrijavanja čipa čime se izbjegava korištenje skupih klimatskih komora. Grijači, temperaturni senzori te upravljački sklopovi razvijeni su u 0, 35 mikrometarskoj visokonaponskoj CMOS tehnologiji.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Elektrotehnika

POVEZANOST RADA