Pregled bibliografske jedinice broj: 76044
Utjecaj uvjeta depozicije na pojavu beta-faze u tankim volframskim filmovima
Utjecaj uvjeta depozicije na pojavu beta-faze u tankim volframskim filmovima // Zbornik Povzetkov 8. Mednarodni znanstveni sestanek Vakuumska znanost in tehnika / Belič, Lidija I. (ur.).
Ljubljana: Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije, 2001. str. 12-12 (predavanje, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 76044 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Utjecaj uvjeta depozicije na pojavu beta-faze u tankim volframskim filmovima
(The effects of deposition conditions upon the beta-W occurence in tungsten thin films)
Autori
Radić, Nikola ; Tonejc, Anđelka ; Tonejc, Antun ; Furlan, Andrej
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Zbornik Povzetkov
8. Mednarodni znanstveni sestanek Vakuumska znanost in tehnika
/ Belič, Lidija I. - Ljubljana : Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije, 2001, 12-12
Skup
8. Mednarodni znanstveni sestanek Vakuumska znanost in tehnika
Mjesto i datum
Brdo kod Kranja, Slovenija, 23.05.2001
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Sažetak
Volfram se zbog svojih osobina - dobre električne vodljivosti, visoke temperature taljenja, mehaničke čvrstoće, otpornosti na koroziju - široko koristi u modernim tehnologijama u obliku tankih filmova. Pri tome se pokazalo da način pripravljanja bitno utječe na karakteristike filma. Prikazati ćemo utjecaj uvjeta pripravljanja postupkom magnetronskog rasprašenja na mikrostrukturu, fazni sastav i naprezanja u tankim volframskim filmovima.
Tanki volframski filmovi pripravljeni su magnetronskim rasprašenjem na staklene podloge (11 mm dia, debljina 1,0 odnosno 0,15 mm). Gustoća struje na meti bila je 4 mA/cm2 (depozicija jednim magnetronom) odnosno 2o2,5 mA/cm2 (dva magnetrona), a udaljenost podloge 5 cm. Ispitivan je utjecaj tlaka radnog plina u rasponu 0,7 - 2,8 Pa, temperature podloge (LN2, RT, 250°C) i trajanja depozicije/debljine filma (15, 30, 60 min) na pojavu metastabilne beta-W faze u pripravljenim filmovima. Struktura i fazni sastav ispitivani su metodom rentgenske difrakcije, a rezidualna naprezanja u filmu određeni su analizom oblika i položaja difrakcijskih linija odnosno mjerenjem deformacije tankih (0,15 mm) staklenih podloga uslijed naprezanja u deponiranom filmu.
Filmovi deponirani pri 0,7 Pa argona po očekivanju su tlačno napregnuti. Uslijed toga u debljim filmovima dolazi do odvajanja od podloge i na površini se pojavljuje reljef - ispupčenja, naboranost ili napukline - čime se djelomično relaksiraju naprezanja u filmu. Uočena je i pojava laminarnog "kalanja" dijelova filma - vjerojatno posljedica postojanja više slojeva iste faze ali s različitim predznakom naprezanja. Filmovi sadrže smjesu faza: alfa-W sa stabilnom b.c.c. strukturom i beta-W sa metastabilnom A15 (W3W) strukturom. Udio alfa-W raste s povećanjem debljine filma i porastom temperature podloge - u filmu deponiranom na 200°C rentgenski je vidljiva samo stabilna alfa-faza. Analize utjecaja tlaka argona i temperature podloge na rezidualna naprezanja, te korelacija sa faznim sastavom pripravljenih filmova je u tijeku, pomoći će odabiru optimalnih parametara za depoziciju stabilnih i strukturno relaksiranih volframskih filmova.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika