Naslov
Elektronska mikroskopija u istraživanju metala
(Electron microscopy in metals research)

Autori
Slokar, Ljerka

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, neobjavljeni rad, stručni

Skup
12. Festival znanosti

Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 07.04.2014. - 12.04.2014

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Nije recenziran

Ključne riječi
valna duljina; mikroskop; elektronska mikroskopija; metali
(wave length; microscope; electron microscope; metals)

Sažetak
Početkom prošlog stoljeća otkriveno je da se elektroni ubrzani u vakuumu ponašaju poput zraka svjetlosti, odnosno da imaju svojstva vala. Njihova je duljina vala oko 100.000 puta manja od duljine vala svjetlosti. Elektronski mikroskopi umjesto snopa svjetlosti koriste snop elektrona, a današnji postižu moć razlučivanja od 0, 1 nm i povećanje od čak 1.000.000 puta. Razlikujemo dva osnovna tipa elektronskih mikroskopa: transmisijski elektronski mikroskop (TEM) i scanning elektronski mikroskop (SEM). SEM ima mnogo prednosti, a jedna od najuvjerljivijih je rezolucija, tj. sposobnost da se "vide" vrlo mali objekti. Zatim, dubina polja – sposobnost da objekti različite "visine" na uzorkovnoj površini ostanu u fokusu, te mikroanaliza – sposobnost da se analizira sastav uzorka. Primjenom elektronske mikroskopije u istraživanju metala dobivamo podatke o njihovoj mikrostrukturi, kvalitativnom i kvantitativnom kemijskom sastavu.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Metalurgija

POVEZANOST RADA