Pregled bibliografske jedinice broj: 673444
SUSTAV ZA TEMPERATURNA MJERENJA INTEGRIRAN NA ČIPU
SUSTAV ZA TEMPERATURNA MJERENJA INTEGRIRAN NA ČIPU, 2012., diplomski rad, preddiplomski, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
CROSBI ID: 673444 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
SUSTAV ZA TEMPERATURNA MJERENJA INTEGRIRAN NA ČIPU
(Temperature measurement system integrated on a chip)
Autori
Šutalo, Mihael
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad, preddiplomski
Fakultet
Fakultet elektrotehnike i računarstva
Mjesto
Zagreb
Datum
06.07
Godina
2012
Stranica
38
Mentor
Barić, Adrijan
Neposredni voditelj
Bačmaga, Josip
Ključne riječi
mjerenje temperature
(temperature measurement)
Sažetak
U ovome radu dobivena programska podrška razvijena u programskom jeziku c# modificirana je kako bi omogućila mjerenje temperaturne evolucije senzora i mjerenje izlaznih napona neopterećenih naponskih referenci. Programskoj podršci ugrađene su nove opcije i funkcije koje omogućuju da pojedinačno na svakom senzoru možemo očitati temperaturu. Osim toga, moguće je u grafičkom sučelju odrediti i broj očitavanja temperature na senzoru. Za potrebe mjerenja temperaturne evolucije na senzoru, programskoj podršci je omogućena mogućnost da može izračunati vrijeme očitavanja i očitane temperature na senzoru te zatim sve rezultate pohraniti u tekstualne datoteke koje se spremaju na računalo. Rezultati mjerenja temperaturne evolucije koristili smo u programskom jeziku Matlab koji nam je omogućio da iz dobivenih rezultata dobijemo grafove ovisnosti temperature o vremenu u slučaju kada imamo uključene sve grijače u sustavu za temperaturna mjerenja.Temperaturna evolucija izmjerena je na 5 različitih senzora i prikazana u radu. Objašnjen je način upravljanja u programskoj podršci koji omogućuje snimanje temperaturne evolucije senzora, kao i pripadni programski kod koji to omogućuje. Modifikacijom programskog koda povećana je brzina očitavanja temperature senzora 2 puta, a u nekim slučajevima i do 4 puta. Na kraju su izmjereni izlazni naponi neopterećenih naponskih referenci u rasponu temperatura 30 °C – 70 °C. Rezultati pokazuju da je sklop temperaturno stabilan u rasponu temperatura 30 °C – 70 °C i nema promjene izlaznog napona. Programska podrška pripremljena je za nova mjerenja.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
036-0361621-1622 - Kvaliteta signala u integriranim sklopovima s mješovitim signalom (Barić, Adrijan, MZO ) ( CroRIS)
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
Profili:
Adrijan Barić
(mentor)