Pregled bibliografske jedinice broj: 645264
Vertical Total Electron Content Performance of EGNOS and Locally Adapted NeQuick 2 Model
Vertical Total Electron Content Performance of EGNOS and Locally Adapted NeQuick 2 Model // Proceedings of the 55th International Symposium ELMAR-2013 / Božek, Jelena ; Grgić, Mislav ; Zovko-Cihlar, Branka (ur.).
Zagreb: Hrvatsko društvo Elektronika u pomorstvu (ELMAR), 2013. str. 327-330 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 645264 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Vertical Total Electron Content Performance of EGNOS and Locally Adapted NeQuick 2 Model
Autori
Vuković, Josip ; Najman, Pavel ; Kos, Tomislav ; Radicella, Sandro M.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings of the 55th International Symposium ELMAR-2013
/ Božek, Jelena ; Grgić, Mislav ; Zovko-Cihlar, Branka - Zagreb : Hrvatsko društvo Elektronika u pomorstvu (ELMAR), 2013, 327-330
ISBN
978-953-7044-14-5
Skup
55th International Symposium ELMAR-2013
Mjesto i datum
Zadar, Hrvatska, 25.09.2013. - 27.09.2013
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
Data ingestion ; EGNOS ; GNSS ; Ionospheric error ; NeQuick 2 model
Sažetak
This paper describes EGNOS and NeQuick 2 model vertical Total Electron Content performance on three stations in the Eastern Europe. Two 6-day periods with different ionospheric conditions were observed. Values calibrated by Ciraolo method were used as a reference. NeQuick 2 model was driven by ingestion of reference data at one of the stations and its modeling degradation with distance was observed. Both EGNOS and NeQuick 2 provided good estimation of the ionosphere in the observed periods.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
036-0361630-1634 - Utjecaj okoliša na rad satelitskih sustava za određivanje položaja (Kos, Tomislav, MZO ) ( CroRIS)
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
Citiraj ovu publikaciju:
Časopis indeksira:
- Scopus