Pregled bibliografske jedinice broj: 588649
Tanki filmovi amorfno-nanokristalnog silicija: strukturne i optičke osobine
Tanki filmovi amorfno-nanokristalnog silicija: strukturne i optičke osobine, 2012., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
CROSBI ID: 588649 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Tanki filmovi amorfno-nanokristalnog silicija: strukturne i optičke osobine
(Amorphous-nanocrystalline silicon thin films: structural and optical properties)
Autori
Juraić, Krunoslav
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, doktorska disertacija
Fakultet
Prirodoslovno-matematički fakultet
Mjesto
Zagreb
Datum
19.07
Godina
2012
Stranica
112
Mentor
Gracin, Davor
Ključne riječi
amorfno-nanokristalni silicij; nanokristali; tanki filmovi; HRTEM; Raman; GIWAXS; GISAXS; PDS; optička svojstva; strukturna svojstva; sunčeve ćelije; kvantna efikasnost
(amorphous-nanocrystalline silicon; nanocrystals; thin films; HRTEM; Raman; GIXRD; GISAXS; PDS; optical properties; structural properties; solar cell quantum efficiency)
Sažetak
Istražene su strukturne i optičke osobine tankih filmova amorfno-nanokristalnog silicija debljine 100-400 nm pripremljenih kemijskom depozicijom pojačanom radiofrekventnim izbojem u plazmi iz smjese silana i vodika. Promjenom parametara depozicije u odnosu na pripremu slojeva amorfnog silicija što uključuje povišenu snagu izboja (100-180 W/m2) i jako razrijeđenu smjesu silana sa vodikom (94-95 % udio vodika) dobiveni su slojevi a-nc-Si:H sa volumnim udjelom nanokristalne faze od potpuno amorfnog do 38 % udjela (Raman), sa raspodjelom veličine nanokristala čija se prosječna vrijednost kretala u rasponu od 2 do 9 nm i slijedila log-normalnu raspodjelu (HRTEM). Rast slojeva a-nc-Si:H određuju procesi depozicije i jetkanja tako da u početnoj fazi rasta nastaje potpuno amorfan sloj a s vremenom se kroz procese jetkanja stvaraju uređene jezgre iz kojih dalje rastu nanokristali. Tako su pripremljeni slojevi potpuno amorfni uz podlogu, a u smjeru prema površini udio i veličina nanokristala se povećava (GISAXS, GIWAXS). Sa povećanjem udjela nanokristala u amorfnoj matrici povećava se broj defekata na graničnim plohama nanokristala sa amorfnom matricom. Pokazano je da optička svojstva (koeficijent apsorpcije, širina optičkog procjepa) ovisi o volumnom udjelu i veličini nanokristala što je posljedica kvantnih efekata povezanih sa malim dimenzijama nanokristala. Kontroliranjem veličine i udjela nanokristala silicija uronjenih u amorfnu matricu, postignuta je varijacija u širini energijskog procjepa od vrijednosti karakteristične za amorfni silicij (1.7 eV) pa do 2.1 eV za uzorak sa najvećim udjelom nanokristala. Ugradnjom takvih slojeva u sunčeve ćelije postignut je plavi pomak maksimuma kvantne efikasnosti do Δλ = 20 nm u odnosu na amorfni silicij što je uz poboljšanu otpornost na degradaciju efikasnosti tijekom izlaganja svjetlu bitno za primjenu anc- Si:H u sunčevim ćelijama treće generacije.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2894 - Tanki filmovi legura silicija na prijelazu iz amorfne u uređenu strukturu (Gracin, Davor, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb