Pregled bibliografske jedinice broj: 572675
Stohastičko vrednovanje naponskih propada - metoda kritičnih udaljenosti
Stohastičko vrednovanje naponskih propada - metoda kritičnih udaljenosti, 2009., diplomski rad, Elektrotehnički Fakultet, Osijek
CROSBI ID: 572675 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Stohastičko vrednovanje naponskih propada - metoda kritičnih udaljenosti
(Stochastic evaluation of voltage dips - a method of critical distances)
Autori
Rikert, Renata
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad
Fakultet
Elektrotehnički Fakultet
Mjesto
Osijek
Datum
16.12
Godina
2009
Stranica
61
Mentor
Nikolovski, Srete
Neposredni voditelj
Klaić, Zvonimir
Ključne riječi
naponski propadi; metoda kritičnih udaljenosti
(voltage dips; the method of critical distances)
Sažetak
U ovom su radu opisani problemi, pokazatelji i norme kvalitete električne energije, definirani su naponski propadi i njihove karakteristike, opisana je stohastička metoda. Prikazana je usporedba metode mjesta kvarova s metodom kritičnih udaljenosti.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike, računarstva i informacijskih tehnologija Osijek