Pregled bibliografske jedinice broj: 507571
In situ i ex-situ istraživanja tankih filmova na kositru
In situ i ex-situ istraživanja tankih filmova na kositru // XIII. skup hrvatskih kemičara
Zagreb, Hrvatska, 1993. str. 242-242 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 507571 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
In situ i ex-situ istraživanja tankih filmova na kositru
(In situ and ex situ investigation of thin solid films on tin)
Autori
Šeruga, Marijan ; Metikoš-Huković, Mirjana
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
XIII. skup hrvatskih kemičara
/ - , 1993, 242-242
Skup
XIII. skup hrvatskih kemičara
Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 08.02.1993. - 10.02.1993
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Domaća recenzija
Ključne riječi
kositar oksid; duplex struktura; poluvodička svojstva
(Sn oxide; duplex structure; semiconducting properties)
Sažetak
Kositar oksid, a mješani oksid s indijem formira transparentne električki vodljive stukture radi čega se široko primjenjuje u solarnim ćelijama i poluvodičkoj industriji za izradu LCD ekrana. U ovom radu elektronska struktura i kemijski sastav anodno formiranih filmova na kositru u citratnom puferu istraživani su korištenjem voltametrijske spektroskopije, impedancijske spektroskopije, fotoelektronske i Auger spektroskopije.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Kemija
