Naslov
Razvoj testnih struktura i demonstracijskih sklopova za bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje

Autori
Poljak, Ivan

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad, diplomski

Fakultet
Fakultet elektrotehnike i računarstva

Mjesto
Zagreb

Datum
07.07

Godina
2010

Stranica
93

Mentor
Suligoj, Tomislav

Ključne riječi
bipolarni tranzistor; HCBT (bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje); ECL (emiterski vezana logika); testne strukture; mjerne metode; demonstracijski sklopovi
(bipolar transistor; HCBT; ECL; test structures; measurement methods; demonstration circuits)

Sažetak
U ovom radu predstavljena je nova tehnologija bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje. Prikazana je integracija HCBT-a (eng. horizontal current bipolar tranzistor) u 0.18μm CMOS proces. Objašnjene su mjerne metode i testne strukture koje se koriste u poluvodičkoj tehnologiji. U praktičnom dijelu rada projektirane su testne strukture za HCBT. Takoner projektirani su i demonstracijski sklopovi koji se koriste za ispitivanje novih bipolarnih tehnologija i dobivanje informacija o bitnim parametrima tranzistora kao štu su brzina rada, parazitni elementi, potrošnja itd.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Elektrotehnika

POVEZANOST RADA