Pregled bibliografske jedinice broj: 474902
Spektroskopija elastično izbijenih iona mjerenjem vremena proleta
Spektroskopija elastično izbijenih iona mjerenjem vremena proleta, 2010., doktorska disertacija, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb
CROSBI ID: 474902 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Spektroskopija elastično izbijenih iona mjerenjem vremena proleta
(Time of flight elastic recoil detection analysis (TOF-ERDA))
Autori
Siketić, Zdravko
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, doktorska disertacija
Fakultet
Prirodoslovno-matematički fakultet
Mjesto
Zagreb
Datum
25.05
Godina
2010
Stranica
104
Mentor
Bogdanović-Radović, Ivančica
Ključne riječi
Elastično izbijanje iona ; TOF-ERDA ; Intrinzična vremenska razlučivot ; Dubinska razlučivost ; Masena razlučivost ; Relativna efikasnost detekcije ; LiF ; Detekcija vodika ; SIMNRA ; FINLANDIA ; CORTEO ; Mikrokanalni detektor ; Pozicijski osjetljiv detektor ; Kinematička poprav
(Elastic recoil ; TOF-ERDA ; Intrinsic time resolution ; Depth resolution ; Mass resolution ; Relative detection efficiency ; LiF ; Detection of hydrogen ; SIMNRA ; FINLANDIA ; CORTEO ; Microchannel plate detector ; Position sensitive detector ; Kinematic correction)
Sažetak
Spektroskopija elastični izbijenih iona mjerenjem vremena proleta (engl. Time-offlight Elastic Recoil Detection Analysis, TOF-ERDA) je metoda koja se bazira na ozračavanju uzorka snopom teških iona (Cl, I, Au..), energija 1 MeV/A, te istovremenoj detekciji vremena proleta i energije iona izbijenih iz mete. Vremenski/energijski spektar pojedine vrste izbijenih atoma pretvara se u dubinski profil korištenjem poznatog gubitka energije po jedinici puta u materijalu. Mjerenjem vremena proleta različiti atomi osim po energiji odvajaju se i po masi pa se tako mogu dobiti dubinski profili svih elemenata u samo jednom mjerenju. Zbog velike zaustavne moći kako ulaznih tako i izbijenih iona ova metoda ima razlučivost od svega nekoliko nm pri samoj površini. Osim izrade samog TOF-ERDA spektrometra u ovom radu napravljene su i bitne promjene spektrometra koje će omogućiti osjetljivo dubinsko profiliranje i najlakših elemenata (vodika i njegovih izotopa). Dobiveno je poboljšanje efikasnosti za faktor 4 u odnosu na dosadašnje postojeće sustave. Također, radi postizanja dubinske rezolucije od samo 1 nm napravljen je pozicijski osjetljiv detektor za kinematičku korekciju raspršenja. Korištenjem pozicijsko osjetljivog detektora, dobiveno je poboljšanje dubinske razlučivosti pri površini za ~ 20%. Još veća poboljšanja dubinske razlučivosti mogu se očekivati za veće prostorne kuteve.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-1191005-2876 - Procesi interakcije ionskih snopova i nanostrukture (Jakšić, Milko, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb