Pregled bibliografske jedinice broj: 463068
Ion beam mixing in SIMS profiling of thin buried layers
Ion beam mixing in SIMS profiling of thin buried layers // Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS VIII / A.Benninghoven, K.T.F.Jansen, J.Tumpner and H.W.Werner (ur.).
Chichester: John Wiley & Sons, 1992. str. 367-370 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 463068 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Ion beam mixing in SIMS profiling of thin buried layers
Autori
Petravić, Mladen ; Elliman, R.G. ; Williams, J.S.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS VIII
/ A.Benninghoven, K.T.F.Jansen, J.Tumpner and H.W.Werner - Chichester : John Wiley & Sons, 1992, 367-370
Skup
8th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS-VIII
Mjesto i datum
Amsterdam, Nizozemska, 15.09.1991. - 20.09.1991
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
SIMS; ion beam mixing
Sažetak
Ion beam mixing in SIMS analysis
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
