Pregled bibliografske jedinice broj: 449276
Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija
Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija // Zbornik sažetaka 6. Znanstvenog sastanka HFDa / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor (ur.).
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2009. str. 75-75 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 449276 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Strukturna istraživanja tankih filmova amorfnog silicija
(Structure of a-Si thin films)
Autori
Dubček, Pavo ; Pivac, Branko ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Zbornik sažetaka 6. Znanstvenog sastanka HFDa
/ Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor - Zagreb : Hrvatsko fizikalno društvo, 2009, 75-75
ISBN
978-953-7178-12-3
Skup
6. Znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva
Mjesto i datum
Primošten, Hrvatska, 08.10.2009. - 11.10.2009
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Domaća recenzija
Ključne riječi
amorfni silicij; tanki film
(amorphous silicon; thin film)
Sažetak
Promjene strukture amorfnog silicija istraživane su raspršenjem rentgenskih zraka pod malim kutom.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982886-2895 - Novi amorfni i nanostrukturirani tankoslojni materijali (Radić, Nikola, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
