Pregled bibliografske jedinice broj: 409853
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films, 2007. (izvještaj).
CROSBI ID: 409853 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films
Autori
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Izvornik
Annual Report 2007, Austrian SAXS Beamline at Elettra
Vrsta, podvrsta
Ostale vrste radova, izvještaj
Godina
2007
Ključne riječi
Si; thin films; characterization
Sažetak
***
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2895 - Novi amorfni i nanostrukturirani tankoslojni materijali (Radić, Nikola, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
Profili:
Nikola Radić
(autor)
Boris Rakvin
(autor)
Branko Pivac
(autor)
Danijela Grozdanić
(autor)
Pavo Dubček
(autor)