Pretražite po imenu i prezimenu autora, mentora, urednika, prevoditelja

Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 387721

Rizici primjene programirljivih logičkih sklopova u ugrađenim industrijskim računalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okruženja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rješenjima ugrađenih računala.


Medved Rogina, Branka; Škoda, Peter; Vlah, Maja
Rizici primjene programirljivih logičkih sklopova u ugrađenim industrijskim računalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okruženja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rješenjima ugrađenih računala., 2008. (elaborat/studija).


CROSBI ID: 387721 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca

Naslov
Rizici primjene programirljivih logičkih sklopova u ugrađenim industrijskim računalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okruženja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rješenjima ugrađenih računala.
(Reliability of programmable logic devices in industrial embedded systems, Modul 3: Realization of metastability measurement setup for evaluation and development of FPGA programmable logic devices in industrial embedded systems.)

Autori
Medved Rogina, Branka ; Škoda, Peter ; Vlah, Maja

Izvornik
IRB

Vrsta, podvrsta
Ostale vrste radova, elaborat/studija

Godina
2008

Ključne riječi
programirljivi logički sklopovi; pouzdanost; ispitno-razvojno okruženje; industrijska udrađena računala
(programmable logic devices; measurement setup; metastability; industrial embedded systems)

Sažetak
Definirano je mjerno okruženje i izmjerene/određene su značajke metastabilnosti za Spartan-3 i Virtex-5 Xilinx FPGA koristeći tri osnovne metode mjerenja. Prikazani su arhitektura i vremenske značajke Spartan-3 i Virtex-5 Xilinx FPGA. Objašnjen je princip nove LTD (Late Transition Detection) mjerne metode, koja se koristi uz dvije referentne metode, Metodu Foley i Metodu s oscilatorima. LTD metoda je realizirana korištenjem PLL-a kao množitelja frekvencije (funkcija generiranja signala takta).

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Elektrotehnika



POVEZANOST RADA


Projekti:
098-0982560-2566 - Mjerenje i karakterizacija podataka iz stvarnog svijeta (Medved-Rogina, Branka, MZOS ) ( CroRIS)

Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb

Profili:

Avatar Url Branka Medved-Rogina (autor)

Avatar Url Peter Škoda (autor)


Citiraj ovu publikaciju:

Medved Rogina, Branka; Škoda, Peter; Vlah, Maja
Rizici primjene programirljivih logičkih sklopova u ugrađenim industrijskim računalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okruženja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rješenjima ugrađenih računala., 2008. (elaborat/studija).
Medved Rogina, B., Škoda, P. & Vlah, M. (2008) Rizici primjene programirljivih logičkih sklopova u ugrađenim industrijskim računalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okruženja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rješenjima ugrađenih računala.. IRB. Elaborat/studija.
@unknown{unknown, author = {Medved Rogina, Branka and \v{S}koda, Peter and Vlah, Maja}, year = {2008}, keywords = {programirljivi logi\v{c}ki sklopovi, pouzdanost, ispitno-razvojno okru\v{z}enje, industrijska udra\djena ra\v{c}unala}, title = {Rizici primjene programirljivih logi\v{c}kih sklopova u ugra\djenim industrijskim ra\v{c}unalima, Modul 3: Izrada ispitno-razvojnog okru\v{z}enja za ispitivanje (mjerenje) metastabilnosti izlaznih signala programirljivih sklopova tipa FPGA koji se koriste u IET rje\v{s}enjima ugra\djenih ra\v{c}unala.}, keyword = {programirljivi logi\v{c}ki sklopovi, pouzdanost, ispitno-razvojno okru\v{z}enje, industrijska udra\djena ra\v{c}unala} }
@unknown{unknown, author = {Medved Rogina, Branka and \v{S}koda, Peter and Vlah, Maja}, year = {2008}, keywords = {programmable logic devices, measurement setup, metastability, industrial embedded systems}, title = {Reliability of programmable logic devices in industrial embedded systems, Modul 3: Realization of metastability measurement setup for evaluation and development of FPGA programmable logic devices in industrial embedded systems.}, keyword = {programmable logic devices, measurement setup, metastability, industrial embedded systems} }




Contrast
Increase Font
Decrease Font
Dyslexic Font