Pregled bibliografske jedinice broj: 381683
Testing PT100 temperature dependence and using it as reference for other PTC measurements
Testing PT100 temperature dependence and using it as reference for other PTC measurements // 20th International Metrology Symposium 1st International Symposium RMO 2008 / Ilić, Damir ; Boršić, Mladen ; Jurčević, Marko (ur.).
Zagreb: Metrology Consulting, 2008. str. 199-201 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 381683 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Testing PT100 temperature dependence and using it as reference for other PTC measurements
Autori
Levak, Kristina ; Ferković, Luka ; Hegeduš, Hrvoje
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
20th International Metrology Symposium 1st International Symposium RMO 2008
/ Ilić, Damir ; Boršić, Mladen ; Jurčević, Marko - Zagreb : Metrology Consulting, 2008, 199-201
ISBN
978-953-95179-1-3
Skup
20th International Metrology Symposium
Mjesto i datum
Cavtat, Hrvatska, 12.11.2008. - 15.11.2008
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
thermistor; thermostate; copper
Sažetak
This experiment examines traceability of resistances of various conductor materials over temperature ranges. Conductor materials which are used are platinum, copper and manganin.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
036-0363081-1650 - Mjerenje elektromagnetskih veličina na etalonskoj razini (Ilić, Damir, MZO ) ( CroRIS)
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
