Pregled bibliografske jedinice broj: 358220
Radiation induced defects in carbon rich EFG POLY-Si
Radiation induced defects in carbon rich EFG POLY-Si // Zbornik sažetaka / Radić, Nikola ; Capan, Ivana (ur.).
Zagreb, 2008. str. 21-21 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 358220 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Radiation induced defects in carbon rich EFG POLY-Si
Autori
Slunjski, Robert ; Capan, Ivana ; Jakšić, Milko ; Pivac, Branko ;
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Zbornik sažetaka
/ Radić, Nikola ; Capan, Ivana - Zagreb, 2008, 21-21
Skup
15. Međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika
Mjesto i datum
Varaždin, Hrvatska, 04.06.2008
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
defects; polycrystalline silicion; DLTS
Sažetak
Aa
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
098-1191005-2876 - Procesi interakcije ionskih snopova i nanostrukture (Jakšić, Milko, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
