Pregled bibliografske jedinice broj: 350348
Svojstva nano-kristaliničnog silicija i mogućnost korištenja za fotonaponsku konverziju
Svojstva nano-kristaliničnog silicija i mogućnost korištenja za fotonaponsku konverziju // Knjiga sažetaka 5. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva
Zagreb, 2007. str. 98-98 (poster, nije recenziran, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 350348 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Svojstva nano-kristaliničnog silicija i mogućnost korištenja za fotonaponsku konverziju
(Properties of nano-crystalline silicon and application in Photovoltaic)
Autori
Gracin, Davor ; Juraić, Krunoslav
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
Knjiga sažetaka 5. znanstvenog sastanka Hrvatskog fizikalnog društva
/ - Zagreb, 2007, 98-98
ISBN
978-953-7178-10-9
Skup
5. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva
Mjesto i datum
Primošten, Hrvatska, 05.10.2007. - 08.10.2007
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Nije recenziran
Ključne riječi
nanokristalinični silicij; strukturna svojstva; transportna svojstva; optička svojstva; fotovoltaici
(nanocrystalline silicon; structural properties; transport properties; optical properties; photovoltaics)
Sažetak
Pod nazivom nano-kristalinični silicij se podrazumijeva materijal sastavljen od uređenih domena nanometarskih dimenzija (nano-kristala) uronjenih u obliku nezavisnih elemenata u matricu amorfne faze. Energijska distribucija elektronskih stanja u uređenim domenama nanometarskih dimenzija je određena njihovom veličinom pa je do određene mjere moguće mijenjati optička i električna svojstva materijala variranjem veličine nano-kristala i međusobnog omjera amorfne i kristale faze. Veći broj uzoraka nano-kristalnog silicija, u obliku filma debljine nekoliko stotina nm, formiran je PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition) metodom koristeći radio frekventni izboj u mješavini vodika i silana. Strukturna svojstva deponiranih filmova su određena difrakcijom x-zraka, mikroskopijom (AFM i HRTEM) i vibracijskom spektroskopijom (Raman, FTIR) te korelirana sa njihovim transportnim i optičkim svojstvima. Rezultati su diskutiraniu okviru poznatih teorijskih modela koji opisuju svojstva "kvantnih točka". Također, procjenjivana je mogućnost korištenja ovakvog kompozitnog materijala pri konstrukciji i izvedbi fotonaponskih ćelija te odnos očekivanih i postignutih vrijednosti u probnoj proizvodnji. [1] D.Gracin, S.Bernstorff, P.Dubcek, A.Gajovic, K.Juraic, Thin Solid Films, 515 (2007) 5615 [2] D.Gracin, S.Bernstorff, P.Dubcek, A.Gajovic, K.Juraic, J. of Appl. Cryst. 40 (2007) 373
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2894 - Tanki filmovi legura silicija na prijelazu iz amorfne u uređenu strukturu (Gracin, Davor, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb