Pregled bibliografske jedinice broj: 3379
Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature
Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature // Proceedings of MIPRO "97 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 1997. str. 1-4 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 3379 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Dependence of Deep Trap Recombination Coefficients on Temperature
Autori
Divković-Pukšec, Julijana
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings of MIPRO "97
/ Biljanović, Petar ; Skala, Karolj ; Ribarić, Slobodan ; Budin, Leo - Rijeka : Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 1997, 1-4
Skup
MIPRO "97, 20th International Convention
Mjesto i datum
Opatija, Hrvatska, 19.05.1997. - 23.05.1997
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
recombination; lifetime; deep traps; capture coefficients
Sažetak
Measurements of the lifetime in the dependence of the current and of the temperature give us much interesting information. One of them is the temperature dependence of the capture coefficients. Measurements were made on a p^+pnn^+ structure into which various deep traps were added. The deep energy levels, associated with the traps lie over or under Fermi level. Those various positions are the cause of different behavior of lifetime with the injection level. For all observed cases the capture coefficients show strong dependence on temperature; as temperature raises the capture coefficients becomes smaller.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
POVEZANOST RADA
Projekti:
036001
Ustanove:
Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb
Profili:
Julijana Divković-Pukšec
(autor)