Pregled bibliografske jedinice broj: 337214
Thermo-electric effect spectroscopy of deep levels - application to semi-insulating GaAs
Thermo-electric effect spectroscopy of deep levels - application to semi-insulating GaAs // Applied physics letters, 56 (1990), 26; 2636-2638 doi:10.1063/1.102860 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
CROSBI ID: 337214 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Thermo-electric effect spectroscopy of deep levels - application to semi-insulating GaAs
Autori
Šantić, Branko ; Desnica, Uroš
Izvornik
Applied physics letters (0003-6951) 56
(1990), 26;
2636-2638
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u časopisima, članak, znanstveni
Ključne riječi
Semiconductors ; III-V ; defects ; traps ; spectroscopy
Sažetak
Thermo-electric efect spectroscopy of deep levels - application to semi-insulating GaAs.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
Citiraj ovu publikaciju:
Časopis indeksira:
- Web of Science Core Collection (WoSCC)
- Science Citation Index Expanded (SCI-EXP)
- SCI-EXP, SSCI i/ili A&HCI
- Scopus