Pregled bibliografske jedinice broj: 303940
Structural properties of Ge nanocrystals embeded in SiO2
Structural properties of Ge nanocrystals embeded in SiO2 // Proceedings MIPRO 2007 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Opatija: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007. str. 50-52 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 303940 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Structural properties of Ge nanocrystals embeded in SiO2
Autori
Capan, Ivana ; Pivac, Branko ; Duguay, S. ; Slaoui, A. ; Dubček, Pavo ; Bernstorff, S.
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings MIPRO 2007
/ Biljanović, Petar ; Skala, Karolj - Opatija : Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2007, 50-52
ISBN
978-953-233-032-8
Skup
MIPRO-2007
Mjesto i datum
Opatija, Hrvatska, 21.05.2007. - 25.05.2007
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
germanium; nanostructures; TEM; GISAXS
Sažetak
Thin silicon dioxide (SiO2) films with embeded germanium nanocrystals (Ge-ncs) were fabricated on Si layers using 74Ge+ implantation and subsequent annealing. Transmission electron microscopy (TEM) and Grazing incidence small angle X-ray scattering (GISAXS) measurements were used to study the Ge redistribution in the SiO2 films.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
POVEZANOST RADA
Projekti:
098-0982886-2866 - Temeljna svojstva nanostruktura i defekata u poluvodičima i dielektricima (Pivac, Branko, MZOS ) ( CroRIS)
098-0982886-2895 - Novi amorfni i nanostrukturirani tankoslojni materijali (Radić, Nikola, MZOS ) ( CroRIS)
Ustanove:
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb
