Pregled bibliografske jedinice broj: 275015
GISAXS Study of Si Nanoclusters in SiO/SiO2 Layers
GISAXS Study of Si Nanoclusters in SiO/SiO2 Layers // JVC11 Joint Vacuum Conference - Programme and Book of Abstracts / Mašek, Karel (ur.).
Prag: Czech Vacuum Society, 2006. str. 79-79 (poster, međunarodna recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 275015 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
GISAXS Study of Si Nanoclusters in SiO/SiO2 Layers
Autori
Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
JVC11 Joint Vacuum Conference - Programme and Book of Abstracts
/ Mašek, Karel - Prag : Czech Vacuum Society, 2006, 79-79
Skup
JVC11 - 11th Joint Vacuum Conference
Mjesto i datum
Prag, Češka Republika, 24.09.2006. - 28.09.2006
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
GISAXS; nanoclusters; silicon
Sažetak
We present a study on amorphous SiO/SiO2 superlattice using grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS).
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
