Pregled bibliografske jedinice broj: 26324
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2, 1998., doktorska disertacija, Prirodoslovno matematički fakultet, Zagreb
CROSBI ID: 26324 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2
(Small-angle synchrotron X-ray scattering on TiO_2 nanophase)
Autori
Lučić-Lavčević, Magdy
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, doktorska disertacija
Fakultet
Prirodoslovno matematički fakultet
Mjesto
Zagreb
Datum
29.12
Godina
1998
Stranica
118
Mentor
Turković, Aleksandra; Tonejc, Anđelka
Ključne riječi
sinkrotronsko zračenje; raspršenje rentgenskih zraka pri malom kutu; tanki slojevi TiO2
(synchrotron radiation; small-angle X-ray scattering; TiO2 thin films)
Sažetak
Tanki slojevi TiO2 dobiveni i popuštani različitim postupcima, ispitivani su metodom
raspršenja rendgenskih zraka pri malom kutu. Poroznost slojeva omogućila je da se
primjenom ove metode odrede dva parametra njihove mikrostrukture, a to su srednja
veličina čestica u nanometarskom području i korigirana unutarnja površina sloja.
Korišteno je sinkrotronsko zračenje jakog intenziteta a raspršenje je analizirano u
refleksnoj geometriji.
Interpretacija mjerenih podataka zasnovana je na obliku raspodjele intenziteta
raspršenog zračenja po kutovima. Uz pomoć aproksimativnog računa za male kutove
raspršenja, procijenjeni su, uz pretpostavku sfernog oblika, srednji promjeri čestica i
širina njihove raspodjele po veličini.
Pri analizi sloja kao dvofaznog sustava, u kojem jednu fazu čine čestice a drugu pore,
uvedena je korigirana unutarnja površina kao parametar mikrostrukture, koji sjedinjuje
volumne udjele dviju faza s njihovom relativnom unutarnjom površinom. Predviđeno je
ponašanje ovog parametra pri popuštanju poroznih slojeva a račun je provjeren na
slojevima TiO2. Pokazano je da korelacija između korigirane unutarnje površine i
srednje veličine čestica ukazuje na promjene u mikrostrukturi sloja.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika, Kemijsko inženjerstvo
POVEZANOST RADA
Ustanove:
Kemijsko-tehnološki fakultet, Split,
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb,
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb