Pretražite po imenu i prezimenu autora, mentora, urednika, prevoditelja

Napredna pretraga

Pregled bibliografske jedinice broj: 26324

Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2


Lučić-Lavčević, Magdy
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2, 1998., doktorska disertacija, Prirodoslovno matematički fakultet, Zagreb


CROSBI ID: 26324 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca

Naslov
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2
(Small-angle synchrotron X-ray scattering on TiO_2 nanophase)

Autori
Lučić-Lavčević, Magdy

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, doktorska disertacija

Fakultet
Prirodoslovno matematički fakultet

Mjesto
Zagreb

Datum
29.12

Godina
1998

Stranica
118

Mentor
Turković, Aleksandra; Tonejc, Anđelka

Ključne riječi
sinkrotronsko zračenje; raspršenje rentgenskih zraka pri malom kutu; tanki slojevi TiO2
(synchrotron radiation; small-angle X-ray scattering; TiO2 thin films)

Sažetak
Tanki slojevi TiO2 dobiveni i popuštani različitim postupcima, ispitivani su metodom raspršenja rendgenskih zraka pri malom kutu. Poroznost slojeva omogućila je da se primjenom ove metode odrede dva parametra njihove mikrostrukture, a to su srednja veličina čestica u nanometarskom području i korigirana unutarnja površina sloja. Korišteno je sinkrotronsko zračenje jakog intenziteta a raspršenje je analizirano u refleksnoj geometriji. Interpretacija mjerenih podataka zasnovana je na obliku raspodjele intenziteta raspršenog zračenja po kutovima. Uz pomoć aproksimativnog računa za male kutove raspršenja, procijenjeni su, uz pretpostavku sfernog oblika, srednji promjeri čestica i širina njihove raspodjele po veličini. Pri analizi sloja kao dvofaznog sustava, u kojem jednu fazu čine čestice a drugu pore, uvedena je korigirana unutarnja površina kao parametar mikrostrukture, koji sjedinjuje volumne udjele dviju faza s njihovom relativnom unutarnjom površinom. Predviđeno je ponašanje ovog parametra pri popuštanju poroznih slojeva a račun je provjeren na slojevima TiO2. Pokazano je da korelacija između korigirane unutarnje površine i srednje veličine čestica ukazuje na promjene u mikrostrukturi sloja.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika, Kemijsko inženjerstvo



POVEZANOST RADA


Projekti:
00980301
011001
119202

Ustanove:
Kemijsko-tehnološki fakultet, Split,
Institut "Ruđer Bošković", Zagreb,
Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb


Citiraj ovu publikaciju:

Lučić-Lavčević, Magdy
Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2, 1998., doktorska disertacija, Prirodoslovno matematički fakultet, Zagreb
Lučić-Lavčević, M. (1998) 'Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2', doktorska disertacija, Prirodoslovno matematički fakultet, Zagreb.
@phdthesis{phdthesis, author = {Lu\v{c}i\'{c}-Lav\v{c}evi\'{c}, Magdy}, year = {1998}, pages = {118}, keywords = {sinkrotronsko zra\v{c}enje, raspr\v{s}enje rentgenskih zraka pri malom kutu, tanki slojevi TiO2}, title = {Raspr\v{s}enje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO\_2}, keyword = {sinkrotronsko zra\v{c}enje, raspr\v{s}enje rentgenskih zraka pri malom kutu, tanki slojevi TiO2}, publisherplace = {Zagreb} }
@phdthesis{phdthesis, author = {Lu\v{c}i\'{c}-Lav\v{c}evi\'{c}, Magdy}, year = {1998}, pages = {118}, keywords = {synchrotron radiation, small-angle X-ray scattering, TiO2 thin films}, title = {Small-angle synchrotron X-ray scattering on TiO\_2 nanophase}, keyword = {synchrotron radiation, small-angle X-ray scattering, TiO2 thin films}, publisherplace = {Zagreb} }




Contrast
Increase Font
Decrease Font
Dyslexic Font