Pregled bibliografske jedinice broj: 214156
Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice
Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice // Proceedings of the First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals, SEMINANO 2005, Vol. 1 / Podor, Balint ; Horvath, Zsolt J. ; Basa Peter (ur.).
Budimpešta: Hungarian Academy of Sciences (MTA), 2005. str. 144-146 (poster, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 214156 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Grazing-incident small-angle X-ray scattering (GISAXS) study of SiO/SiO2 superlattice
Autori
Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; Zorc, Hrvoje ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings of the First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals, SEMINANO 2005, Vol. 1
/ Podor, Balint ; Horvath, Zsolt J. ; Basa Peter - Budimpešta : Hungarian Academy of Sciences (MTA), 2005, 144-146
Skup
First International Workshop on Semiconductor Nanocrystals, SEMINANO 2005
Mjesto i datum
Budimpešta, Mađarska, 10.09.2005. - 12.09.2005
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
SiO/SiO2; superlattice; GISAXS
Sažetak
In this apper we present a study of annealing effects on amorphous SiO/SiO2 superlattice using grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS).
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Fizika
