Naslov
Visoko razlučiva spektroskopija X-zraka induciranih ionima MeV-skih energija
(High-resolution spectroscopy of X-rays induced by ions in MeV energy range)

Autori
Mandić, Luka

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, magistarski rad

Fakultet
Prirodoslovno-matematički fakultet

Mjesto
Zagreb

Datum
30.09

Godina
2005

Stranica
90

Mentor
Jakšić, Milko

Ključne riječi
HR-PIXE; X-zračenje; visoko razlučiva spektroskopija; PSPC; kemijski efekti; Kb spektar; vanadij
(HR-PIXE; X-ray; high-resolution spectroscopy; PSPC; chemical effects; Kb spectrum; vanadium)

Sažetak
Cilj ovog rada bio je razvoj i ispitivanje mogućnosti spektrometra za visoko razlučivu PIXE spektroskopiju. Osnovni dijelovi ovog spektrometarskog sustava su ravni LiF(220) kristal koji služi kao disperzijski element, te pozicijsko osjetljivi proporcionalni brojač (PSPC) kućne izrade koji služi kao detektor X-zračenja. Ispitana je pozicijska razlučivost detektora u ovisnosti o raznim parametrima njegova rada i određene su optimalne vrijednosti tih parametara za koje je postignuta najbolja razlučivost. Razvijeni spektrometarski sustav korišten je u istraživanju fine strukture zračenja iz vanadija i nekih njegovih spojeva. U izmjerenim spektrima su jasno razlučeni radijativni doprinosi drugog reda: spektralne linije Kb5, Kb', Kb'' i Kb'''. Intenziteti i energije tih linija iščitane su iz izmjerenih spektara i iskazane relativno prema intenzitetu i energiji Kb1, 3 linije. Pokazan je utjecaj kemijskog okoliša (oksidacijsko stanje vanadija) na navedene veličine. Rezultati ukazuju da se razvijeni spektrometarski sustav može koristiti u eksperimentima analize kemijskog stanja.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika

POVEZANOST RADA