Naslov
Proučavanje poluvodičkih materijala snopovima iona
(Characterisation of semiconductor materials using ion beam)

Autori
Medunić, Zvonko ; Jakšić, Milko ; Pastuović, Željko ; Skukan, Natko ; Bogdanović Radović, Ivančica

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Knjiga sazetaka / 4. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva / Kumerički, Krešimir - Zagreb, 2003

Skup
4. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva

Mjesto i datum
Zagreb, Hrvatska, 13.11.2003. - 15.11.2003

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Nije recenziran

Ključne riječi
poluvodički materijali; ionski snopovi; IBIC; transport naboja
(semiconductor material; ion beams; IBIC; charge transport)

Sažetak
Snop visokoenergijskih iona (nekoliko MeV-a) vrlo je pogodan za proučavanje svojstava poluvodičkih materijala. Energija koju ion gubi ionizacijom prolazeći kroz materijal dovoljna je za produkciju velikog broja parova elektrona i šupljina što čini osnovu IBIC metode (Ion Beam Induced Charge). Električni signal koji tom prilikom nastaje na priključenim elektrodama elektronički se pojačava, oblikuje, digitalizira i prikuplja na računalu. Nuklearna mikroproba uredjaj je kojim se ionski snop može fokusirati na vrlo male dimenzije (1&micro ; ; m) i skenirati preko površine uzorka. Dobivene 2D mape efikasnosti prikupljanja naboja prikaz su kvalitete proučavanog poluvodičkog materijala. Mijenjanjem energije i vrste upadnih iona mijenja se i dubina do koje oni prodiru u materijal što omogućuje uvid u svojstva materijala i duboko ispod površine. Novijom TRIBIC metodom (Time Resolved Ion Beam Induced Charge) analizira se vremenska evolucija električnog pulsa koji nastane udarom iona u materijal. Iz oblika tog pulsa zaključuje se o transportnim procesima koje odredjuju defekti prisutni u materijalu.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika

POVEZANOST RADA