Pregled bibliografske jedinice broj: 1265709
Analiza kemijskega stanja lahkih elementov z meritvijo PIXE spektrov z visoko energijsko ločljivostjo
Analiza kemijskega stanja lahkih elementov z meritvijo PIXE spektrov z visoko energijsko ločljivostjo // ZBORNIK POVZETKOV: 9. konference fizikov v osnovnih raziskavah / Osterman, Natan ; Škarabot, Miha (ur.).
Ljubljana: Fakulteta za matematiko in fiziko, Univerza v Ljubljani, 2014. str. 72-72 (poster, domaća recenzija, sažetak, znanstveni)
CROSBI ID: 1265709 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Analiza kemijskega stanja lahkih elementov z
meritvijo PIXE spektrov z visoko energijsko
ločljivostjo
(Analysis of the chemical state of third-row elements with measurement of PIXE spectra with high energy resolution)
Autori
Petric, Marko ; Kavčič, Matjaž ; Žitnik, Matjaž ; Bučar, Klemen ; Szlachetko, Jakob
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni
Izvornik
ZBORNIK POVZETKOV: 9. konference fizikov v osnovnih raziskavah
/ Osterman, Natan ; Škarabot, Miha - Ljubljana : Fakulteta za matematiko in fiziko, Univerza v Ljubljani, 2014, 72-72
Skup
9. konferenca fizikov v osnovnih raziskavah
Mjesto i datum
Škofja Loka, Slovenija, 12.11.2014. - 13.11.2014
Vrsta sudjelovanja
Poster
Vrsta recenzije
Domaća recenzija
Ključne riječi
Rentgenska analitska metod PIXE, teorije gostotnih funkcionalov
(x-ray analitic metod PIXE, density functional theory)
Sažetak
Rentgenska analitska metoda PIXE (Proton Induced X-ray Emission) bazira na uporabi polprevodniških detektorjev, ki omogočajo določitev elementnih koncentracij v vzorcu z visoko občutljivostjo, žal pa njihova energijska ločljivost ne omogoča hkratne analize kemijske vezave elementa. Najbolj uveljavljena spektroskopska metoda za analizo kemijskega stanja je rentgenska absorpcijska spektroskopija (XAS), ki uporablja energijsko nastavljivo, monokromatsko rentgensko svetlobo iz sinhrotronskih izvirov. Alternativno možnost predstavlja rentgenska emisijska spektroskopija (XES) z uporabo Braggovih kristalnih spektrometrov, ki jo lahko kombiniramo z manjšimi laboratorijskimi izviri in različnimi tipi vzbujanja. Vkolikor je energijska ločljivost spektrometra primerljiva z ločljivostjo monokromatorja na žarkovni liniji sinhrotrona, emisijski spektri omogočajo tudi analizo kemijske okolice elementa v vzorcu [1]. V našem delu smo z Braggovim kristalnim spektrometrom v Johanssonovi geometriji optimiziranim za meritve rentgenskih emisijskih spektrov v področju 2-6 keV [2], izmerili karakteristične spektre K in K različnih spojin fosforja, žvepla in klora pri vzbujanju z MeV protoni. Eksperimentalna ločljivost je znašala ~ 0, 5 eV, kar je primerljivo z naravno širino merjenih spektralnih črt. Izmerjeni spektri razločno kažejo vpliv kemijske vezave elementa v snovi in omogočajo določitev oksidacijskega stanja elementa ter preučevanje lokalne kemijske okolice. Natančnejša interpretacija izmerjenih rezultatov je mogoča na podlagi kvantno kemijskih računov za molekule s programskim paketom StoBe-deMon [3] na osnovi teorije gostotnih funkcionalov (DFT).
Izvorni jezik
Slv
Znanstvena područja
Fizika
