Pregled bibliografske jedinice broj: 110737
Lumped Elements De-embedding Procedure
Lumped Elements De-embedding Procedure // Proceedings of the 26th International Convention MIPRO 2003 / Biljanović, Petar ; Skala, Karolj (ur.).
Rijeka: Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2003. str. 93-97 (predavanje, međunarodna recenzija, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni)
CROSBI ID: 110737 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Lumped Elements De-embedding Procedure
Autori
Barić, Adrijan ; Pejčinović, Branimir
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u zbornicima skupova, cjeloviti rad (in extenso), znanstveni
Izvornik
Proceedings of the 26th International Convention MIPRO 2003
/ Biljanović, Petar ; Skala, Karolj - Rijeka : Hrvatska udruga za informacijsku i komunikacijsku tehnologiju, elektroniku i mikroelektroniku - MIPRO, 2003, 93-97
Skup
26th International Convention MIPRO 2003
Mjesto i datum
Opatija, Hrvatska, 19.05.2003. - 23.05.2003
Vrsta sudjelovanja
Predavanje
Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija
Ključne riječi
de-embedding; lumped elements; pad parasitics
Sažetak
This paper discusses the de-embedding procedure used to subtract the pad parasitics from the on-chip measurements. The pad parasitics can be successfully modeled by lumped elements that surround the measured device. In order to use the suggested method it is necessary to have three standards: open, thru, and short standards. The proposed scheme takes into account the difference between the layouts of the de-embedding standards and measured devices. The de-embedding procedure is demonstrated on the on-chip inductor measurements.
Izvorni jezik
Engleski
Znanstvena područja
Elektrotehnika
