Naslov
Analiza topografije površine primjenom mikroskopa atomskih sila
(Analysis of surface topography using an atomic force microscope)

Autori
Razumić, Fran

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Ocjenski radovi, diplomski rad, preddiplomski

Fakultet
Fakultet strojarstva i brodogradnje

Mjesto
Zagreb

Datum
24.09

Godina
2020

Stranica
50

Mentor
Runje, Biserka ; Horvatić Novak, Amalija

Ključne riječi
AFM, topografija površine, hrapavost
(AFM, surface topography, roughness)

Sažetak
Mikroskop atomskih sila (engl. Atomic Force Microscope – AFM) pripada grupi mikroskopa s ticalima. AFM radi na principu raster skeniranja uzoraka. Skeniranje se provodi oštrim vrhom ticala koje, ovisno o odabranom načinu rada, dotiče ili prolazi veoma blizu površine predmeta koji se ispituje. Ispitivanje površine AFM-om ne traži posebnu pripremu uzorka koji se ispituje, a rezultat ispitivanja strukture površine do razine atoma dan je 3D prikazom. Mikroskopi atomskih sila pogodni su za ispitivanje površine materijala, atoma i molekula, individualnih makromolekula te bioloških podvrsta. U prvom dijelu rada navedene su metode i uređaji koji se koriste za analizu topografije površine. U drugom dijelu rada pobliže je opisan AFM, prikazane su metode rada AFM-a i navedeni primjeri za svaku od metoda. Na posljetku, primjenom mikroskopa atomskih sila, napravljena analiza topografije površine odabranih uzoraka i etalona. Pri izradi ovog rada, za analizu i obradu topografija površina korišten je program Mountains SPIP (probna verzija).

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Strojarstvo

POVEZANOST RADA