Pregled bibliografske jedinice broj: 83133
Raspršenje rentgenskih zraka sinkrotronskog izvora pri malom kutu u nanostrukturnim V/Ce oksidnim slojevima
Raspršenje rentgenskih zraka sinkrotronskog izvora pri malom kutu u nanostrukturnim V/Ce oksidnim slojevima // Strojarstvo, 44 (2002), 3-6; 179-185 (međunarodna recenzija, članak, znanstveni)
CROSBI ID: 83133 Za ispravke kontaktirajte CROSBI podršku putem web obrasca
Naslov
Raspršenje rentgenskih zraka sinkrotronskog izvora pri malom kutu u nanostrukturnim V/Ce oksidnim slojevima
(Small-angle X-ray scattering of synchrotron light source on nanostructured V/Ce Oxide films)
Autori
Turković, Aleksandra ; Hrestak, Kristina ; Dubček, Pavo ; Crnjak Orel, Zorica
Izvornik
Strojarstvo (0562-1887) 44
(2002), 3-6;
179-185
Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Radovi u časopisima, članak, znanstveni
Ključne riječi
SAXS; Tanki filmovi; V/Ce oksidi; Dip-coating ( premaz umakanjem)
(SAXS; Thin films; V/Ce-oxide; dip-coating)
Sažetak
SAXS ("small-angle X-ray scattering" ili raspršenje rentgenskih zraka pri malom kutu) podaci za V/Ce nanostrukturne okside dobiveni su sa Gabriel tipom, plinom ispunjenim 1D detektorom na sinkrotronu ELETTRA. SAXS krivulje za miješane okside mjerene su u intervalima određenih kuteva priklona. U ovom radu pokazani su rezultati SAXS-a za V/Ce oksid sa 38% atomskih udjela V.
Izvorni jezik
Hrvatski
Znanstvena područja
Fizika
Citiraj ovu publikaciju:
Časopis indeksira:
- Current Contents Connect (CCC)
- Web of Science Core Collection (WoSCC)
- Science Citation Index Expanded (SCI-EXP)
- SCI-EXP, SSCI i/ili A&HCI
- Scopus
