Naslov
Analiza 2D GISAXS spektara CdS nanokristala u SiO2 substratu
(Analysis of 2D GISAXS patterns of CdS nanocrystals in SiO2 substrate)

Autori
Buljan, Maja ; Salamon, Krešimir ; Dubček, Pavo ; Bernstorff, Sigrid ; Desnica-Franković, Ida-Dunja ; Milat, Ognjen ; Desnica, Uroš

Vrsta, podvrsta i kategorija rada
Sažeci sa skupova, sažetak, znanstveni

Izvornik
Zbornik sažetaka 9. međunarodnog sastanka Vakuumska znanost i tehnika / Radić, Nikola - Zagreb : Hrvatsko Vakuumsko Društvo (HVD), 2002, 14-14

Skup
9. međunarodni sastanak Vakuumska znanost i tehnika

Mjesto i datum
Trakošćan, Hrvatska, 15.05.2002

Vrsta sudjelovanja
Predavanje

Vrsta recenzije
Međunarodna recenzija

Ključne riječi
nanokristali; CdS; implantacija
(nanocrystals; CdS; implantation)

Sažetak
Raspršenje rendgenskih zraka pod malim upadnim kutom (grazing incidence small-angle X-ray scattering-GISAXS), primijenjeno je na nanokristale poluvodiča u SiO2 supstratu. Analizom slike raspršenja, snimljenoj na 2D detektoru, dobiven je oblik, veličina, raspodjela veličina i međusobna udaljenost čestica unutar supstrata. GISAXS analiza bazirana je na metodi lokalne monodisperzne aproksimacije (local monodisperse approximation-LMA) i raspršenja sa realnih površina u Bornovoj aproksimaciji distordiranih valova (distorted wave Born approximation-DWBA). Lokalna monodisperzna aproksimacija pretpostavlja da su položaj i veličina čestica unutar supstrata međusobno korelirani, te da se sustav čestica sastoji od mnogo monodisperznih podsustava. Ukupno raspršenje sa čestica unutar supstrata jednako je sumi raspršenja sa tih podsustava. Raspršenje na samoj površini daje dodatni doprinos ukupnom intenzitetu, te se mora uzeti u obzir prilikom analize GISAXS spektara. Ispitivani su nanokristali CdS formirani metodom sinteze iz ionskog snopa u SiO2 supstratu. Serije profila duž raznih polarnih kutova detektora (2D GISAXS spektara), prilagođavane su na teoretske modele. Iz parametara prilagođavanja određeni su veličina, oblik, međusobna udaljenost i raspodjela veličina čestica, koji su u dobrom slaganju (unutar 10 %) sa rezultatima mjerenja transmisijskim elektronskim mikroskopom.

Izvorni jezik
Hrvatski

Znanstvena područja
Fizika

POVEZANOST RADA